Rohde & Schwarz und Spirent arbeiten bei Automotive Ethernet-Tests zusammen

11. Oktober 2018 - Rohde & Schwarz und Spirent entwickeln gemeinsam eine einzigartige, voll integrierte Testlösung, die sowohl die Bitübertragungsschicht als auch die Protokollschicht gemäß der Automotive Ethernet TC8 ECU Testspezifikation (ECU: Electronic Control Unit) vollständig abdeckt. Als Mitglieder der OPEN Alliance Special Interest Group (SIG) arbeiten beide Unternehmen eng mit den Partnern in der Industrie zusammen, um gemeinsam maßgeschneiderte Lösungen für die Herausforderungen der neu entstehenden Technologien zu entwickeln.

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Testlösung für die Serienfertigung von 5G-Basisstationen

10. Oktober 2018 - Keysight Technologies hat den 5G Multi-Band-Vektor-Transceiver Keysight S9100A angekündigt. Der S9100A ist eine kompakte und skalierbare Testlösung für die Serienfertigung von 5G-Basisstationen. Die neue Lösung ermöglicht es Herstellern von Netzwerkgeräten (NEMs) Volumentests von 5G New Radio (NR)-Infrastrukturgeräten zu rationalisieren und so die Bereitstellung von 5G-Netzwerken zu beschleunigen.

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Synchrones Debuggen von Multi-Chip-Systemen

09. Oktober 2018 – Mit dem neuen Multi-Target-Debug-Adapter für das Universal Access Device UAD3+ der Universal Debug Engine (UDE) präsentiert PLS Programmierbare Logik & Systeme auf der electronica 2018 in Halle B4, Stand W22 das erste Tool, das ein synchrones Debugging von Multi-Chip-Systemen erlaubt.

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Nutzung von Mikrocontroller-Debugging-Schnittstelle zum Messen, Kalibrieren und Debuggen

08. Oktober 2018 – Basierend auf dem neuen ASAM-Standard „Software Debugging over XCP“ bieten Vector und Lauterbach eine integrierte Lösung für die Steuergeräte-Software-Entwicklung an. Der beim hochperformanten Messen, Kalibrieren und Debuggen meist notwendige Tausch der an der Mikrocontroller-Debugging-Schnittstelle angeschlossenen Tool-Hardware entfällt vollständig.

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Online-Testsystemfinder hilft bei der Auswahl geeigneter Testlösungen

02. Oktober 2018 - Der neue Testsystemfinder von Digitaltest zeigt Elektronikfertigern in kürzester Zeit das passende Testsystem für ihre Produktion. Das Online-Tool ist über die Digitaltest-Webseite erreichbar und liefert eine aussagekräftige Empfehlung für die Umsetzung der individuellen Teststrategie.

Unterschiedliche Baugruppentypen – also Low oder High Mix – beeinflussen ebenso das Ergebnis, wie die Menge der im Jahr getesteten Leiterplatten oder die Anzahl der Netze. Der Testsystemfinder liefert in wenigen Sekunden bis zu zwei passende Systeme für die jeweiligen Produktionsanforderungen. Die Ergebnisse beinhalten In-Circuit-Tester sowie Flying Prober, je nach Bedarf in Kombination mit Adaptern oder Paralleltest-Erweiterung.

www.digitaltest.com/

Oszilloskope mit höchster Bandbreite und Signalintegrität

28. September 2018 - Keysight Technologies stellt mit der neuen Infiniium UXR-Serie Oszilloskope mit analogen Bandbreiten von 13 bis 110 GHz und einer bisher unerreichten Signalintegrität vor. Durch ihre Skalierbarkeit werden die Oszilloskope heutigen und zukünftigen Anforderungen gerecht und gewährleisten so einen umfassenden Investitionsschutz.

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Analyse optischer PAM4-Signale bis zu 53Gbaud

25. September 2018 – Anritsu bietet einen Firmware-Update als Download für das Sampling-Oszilloskop BERTWave MP2110A an. Die neue Firmware verdoppelt die maximal analysierbare Symbolrate von PAM4-Signalen von 26 Gbaud auf 53 Gbaud und ist speziell für Produktionstests und Inspektionen optischer Module ausgelegt. Damit unterstützt das MP2110A das Testen und Prüfen optischer QSFP-DD Transceiver – sowohl in der Entwicklung als auch in der Fertigung. Diese neue Generation von Transceivern wird zukünftig in Datenzentren eingesetzt.

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