Prüftechnik Schneider & Koch präsentiert Vielzahl von Produkt-Neuheiten

08. November 2011 - Neben den bekannt leistungsfähigen AOI-Systemen vom Typ LaserVision, die in diesem Jahr mit Weiterentwicklungen sowohl im Hardware- als auch im Software-Bereich aufwarten, liegt ein Schwerpunkt der Messepräsentation auf PXI-basierten Testsystemen. Als Vertriebspartner des PXI-Spezialisten Geotest Marvin Test Systems Inc., zeigt Prüftechnik Schneider & Koch PXI-Systeme und Module unterschiedlichster Art und Konfiguration.

Präsentiert wird erstmals auch das neue Halbleiter-Testsystem TS-900 für Komponententests sowie System-On-Chip (SoC) und System-In-Package (SiP) Testanwendungen. Das modular aufgebaute und erweiterbare System für Digital- und Mixed-Signal-Testanwendungen überzeugt durch seinen modularen Aufbau, die umfangreiche Funktionalität der Testsystemsoftware ATEasy, eine integrierte Adaptionsschnittstelle für bis zu 512 Testkanäle bei einer Datenrate bis 100 Mhz sowie durch eine integrierte Per-Pin PMU (Parametric Measurement Unit).

Im Bereich Automatische Testeinrichtungen (ATE) stellt Prüftechnik Schneider & Koch zudem die neue Version der Testprogrammsoftware ATE-Production vor, die sich durch einfache Programmierung und durch den Verzicht auf aufwändige Quell-Code-Eingriffe auszeichnet. Interessante Neuerungen ergeben sich vor allem durch die vollständig überarbeitete Oberfläche (GUI – Graphical User Inferface) sowie ein neues Bedienkonzept, durch das sich die Arbeit mit der Software für den Benutzer besonders ergonomisch und anwenderfreundlich gestalten lässt.

Prüftechnik Schneider & Koch ist in Halle A1 auf Stand 269 zu finden.