|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestNeue Module für die Digitaltest MTS System-Familie13. März 2009 - Digitaltest GmbH stellt neue Module für die aktuellen Systeme (Omega, Condor, Sigma, Eagle, Lambda, Falcon, MTS30) vor. Es sind zwei neue Hardware-Module verfügbar, eine programmierbare Widerstandsdekade und eine Schaltmatrixkarte. Die neuen Module erweitern die Fähigkeiten der Systeme im Bereich Kombi-Test erheblich. Somit werden nicht nur neue Fähigkeiten hinzugefügt, sondern als Folge davon können z.B. Adaptierungen vereinfacht und dadurch kostengünstiger gestaltet werden. Alle aktuellen Systeme, unabhängig ob als Stand-Alone System betrieben oder in In-Line Umgebungen integriert, können mit den neuen Modulen nachgerüstet werden. Mit der programmierbaren Widerstandsdekade MRD können z.B. Eingangssensoren und ähnliches an einer Baugruppe simuliert, Abgleichwiderstände bestimmt und vergleichbare Aufgaben im Funktionstest erfüllt werden. Die MRD ist eine programmierbare, präzise Widerstandsdekade, die man zwischen zwei beliebigen Pins schalten kann. Das Modul deckt den Widerstandsbereich von 1 Ohm bis 16.777215 MOhm (=2^24) mit einer Schrittweite von 1 Ohm ab. Die neue Schaltmatrix-Karte MSU eignet sich für die Verwendung im analogen In-Circuit-Test bis hin zum Funktionstest einer Baugruppe unter Netzspannung. Die MSU ermöglicht eine Verschaltung von Spannungen bis 250Vac mit 64 Pins an der Schnittstelle, um so z.B. zusätzliche Stimuli oder Messgeräte an den Prüfling zu schalten. Durch die erhöhte Spannungsfestigkeit der Matrix-Karte können auf einem Prüfling auch normale analoge In-Circuit-Tests durchgeführt werden. Dabei kann auf dem gleichen Adapter auch ein Funktionstest unter Netzspannung erfolgen, ohne dass eine 2-Stufen-Adaptierung benötigt wird. Ein spezieller Schutzmechanismus auf der Karte verhindert, dass im Funktionstest höhere Spannungen auf die Busleitungen geschaltet werden (z.B. bei einem Fehler auf dem Prüfling). Beide Karten sind sofort verfügbar. Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |