|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestProfessionelle Funktionalität in Oszilloskopen der Einstiegsklasse17. April 2020 – Keysight Technologies stellt vier neue 2-Kanal-Oszilloskop-Modelle der InfiniiVision 1000 X-Serie mit einer Bandbreite von 50 MHz bis 200 MHz vor, die Messungen und Funktionen auf professionellem Niveau zu einem erschwinglichen Preis bieten. Dazu gehören eine Standard-Decodierfunktion für fünf serielle Datenprotokolle und eine Remote-Verbindung über LAN und USB. Die neuen Oszilloskope der InfiniiVision 1000 X-Serie verwenden dieselbe Benutzeroberfläche und Messtechnik wie die leistungsfähigeren Keysight InfiniiVision Oszilloskope. Das intuitive Frontpanel, das jetzt in 15 Sprachen erhältlich ist, ist einfach zu bedienen und bietet eine integrierte Hilfefunktion. Diese ermöglicht dem Kunden ein schnelles Verständnis der Oszilloskop-Funktionen und -Optionen und verbessert die Gesamteffizienz des Tests. Sie beinhaltet auch Setup-Tipps für komplexe Analyseoptionen. Sechzehn komplementäre Schulungssignale sind vorinstalliert, um eine schnelle Nutzung der erweiterten Mess- und Analysefunktionen der InfiniiVision 1000 X-Serie zu gewährleisten. Diese Schulungssignale können auch in Verbindung mit dem kostenlosen Schulungskit für Lehrkräfte verwendet werden, dass eine umfassende Labor-Anleitung für Oszilloskope und einen Foliensatz für die Grundlagen des Oszilloskops enthält. Die Bandbreite der neuen InfiniiVision 1000 X-Modelle kann per Software-Lizenz aufgerüstet werden, so dass Kunden die jetzt benötigte Bandbreite kaufen und bei zukünftigen Entwicklungen aufrüsten können. Die Oszilloskope der InfiniiVision 1000 X-Serie sind mit einer Bandbreite von 50, 70, 100 und 200 MHz erhältlich und zeichnen sich durch die folgenden Eigenschaften aus:
www.keysight.com/ Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |