|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestIn-System Emulationstechnik für ARM® Architektur13. Juli 2009 - GÖPEL electronic hat eine speziellen Modellbibliothek für Prozessoren mit einer ARM Cortex-M3 Architektur zur Unterstützung für seine Emulationstechnik VarioTAP®entwickelt. Die als VarioTAP-Bibliotheken sind modular als intelligente IP strukturiert und ermöglichen eine vollständige Fusion von Boundary Scan Test und JTAG Emulation. Auf dieser Basis können auch embedded oder externe Flash über die native Prozessorfunktion direkt im System programmiert werden. Außerdem unterstützt VarioTAP® interlaced Bus Emulation Tests (BET) und System Emulation Tests (SET) für erweiterte JTAG Boundary Scan Funktionalität. Die VarioTAP IP-Modelle für die ARM Cortex-M3 Prozessoren wurden in enger Kooperation mit der erst vor kurzum in das GATETM-Partnerprogramm aufgenommenen Firma Testonica entwickelt und ermöglichen sowohl Flash-Programmierung als auch eine Vielzahl von Emulationstestfunktionen. Dabei werden alle denkbaren Scan Chain Konfigurationen vom Einzelbetrieb, über Mischbetrieb mit anderen JTAG Devices in einer Kette, bis hin zum Einsatz von Scan Routern unterstützt. Die adaptive Streamingtechnik der TAP-Signale eröffnet die Möglichkeit in einem Testprogramm Emulationstests parallel oder interaktiv zu Boundary Scan Tests auszuführen, wobei die Zahl der TAP's prinzipiell keiner Limitierung unterliegt. Unter Nutzung der Hardwareplattform SCANFLEX® sind dadurch beispielsweise bis zu 8 TAP unabhängig und simultan zu anderen I/O Ressourcen ansteuerbar. Bei der Flash Programmierung werden neben den embedded Flash auch extern angeschlossene Flash unterstützt, wobei die Script Generierung auf automatisch erfolgt. Die IP-Funktionen zur Busemulation und zur Systememulation ermöglichen neben einem dynamischen Test der extern angeschlossener Komponenten wie RAM's oder I/O Ressourcen auch die funktionale Testung von On-Chip Interfaces, sowie die Ausführung von kundenseitig definiertem Programmcode. www.goepel.comWeitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |