|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestBoundary Scan-Controller für PXIe/Compact PCI Express17. September 2012 - JTAG Technologies erweitert seine Produktpalette der Boundary Scan IEEE Std. 1149.1 Controller. Die neue DataBlaster JT 37x7/PXIe Karte unterstützt das zunehmend populäre PXIe/Compact PCI Express Steckkartenformat, das in modernen automatischen Testsystemen zum Einsatz kommt. JTAG Technologies hat den neuen Boundary Scan-Controller speziell für die immer häufiger durchgeführte schnelle In-System-Programmierung (ISP) von Flash-Speichern, seriellen Speichern und CPLDs sowie den Test von komplexen digitalen Schaltungen entwickelt. Durch die Verwendung des proprietären ETTTM Systems (Enhanced Throughput Technology) von JTAG Technologies erlaubt die neue DataBlaster JT 37x7/PXIe Karte Taktraten von bis 40 MHz und enthält einen Flash-Image-Zwischenspeicher. Durch das komplementäre QuadPODTM-System verfügt die neue DataBlaster/PXIe Karte vier synchronisierte TAPs (Test Access Ports), so dass Multi-TAP-Testziele (UUTs) oder eine Gang-Programmierung von vier einzelnen TAP-Zielen unterstützt werden. Das QuadPODTM System kann zudem SCIL-Module von JTAG Technologies enthalten, wodurch der Anwender kundenspezifische Testschnittstellen (BDM, I2C etc.) oder das Mixed-Signal-DAF-Messmodul (Digital, Analog, Frequency) nutzen kann. Peter van den Eijnden (Managing Director) sieht weitere Vorteile, da das JTAG/Boundary Scan Verfahren mittlerweile in vielen Industriebereichen, von Automotive bis hin zur Teilchen-Physik, eingesetzt wird und die Anforderungen an den Funktionstest meist sehr anspruchsvoll sind. Außerdem hat für JTAG Technologies die Eignung der Digital- und Mixed-Signal-Hardware von für die jeweils bevorzugte Umgebung eine hohe Priorität. Die skalierbare DataBlaster JT 37x7/PXIe Produktpalette startet mit dem kostengünstigen Einstiegsmodel JT 3707/PXIe, das ideal für schnelle Testanwendungen und die In-System-PLD-Programmierung ist. Die Modelle JT 3717/PXIe und JT 3727/PXIe lassen sich optional mit einem ETTTM Modul für eine Flash-ISP ausstatten und unterstützen dann eine Flash-Programmierung mit hohem Durchsatz sowie den Test und die Programmierung von PLDs. DataBlaster/PXIe-Produkte sind vollständig kompatibel zu allen Versionen der Test- und ISP-Tools von JTAG Technologies, wie JTAG ProVision sowie die Entwicklungs- und Laufzeit-Pakete für die Fertigung der früheren 'Classic' Familie. www.jtag.com Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |