News - Baugruppen- und System-Test

Mehrkanaliger Bit-Error-Rate-Test mit FPGA Embedded Instruments

26. März 2014 - GÖPEL electronic hat neue Funktionen für einen parallelen Multi-Channel Bit Error Rate Test (BERT) mit seiner IP-basierenden ChipVORX-Technologie entwickelt. Die hochautomatisierte Lösung ermöglicht den Einsatz von FPGA Embedded Instruments in Form von speziellen Softcores zum Test und zur Design-Validierung von Multi-Channel Highspeed-I/O und seriellen Bussystemen wie z.B. PCI Express x2/x4/x8/x16. Anwender können dadurch die Qualität der Übertragungskanäle über parallele Messungen der Bitfehlerrate auf allen Kanälen gleichzeitig beurteilen.

Zur Unterstützung der Design-Validierung ist auch eine graphische Auswertung per Augendiagramm möglich. Dabei übernimmt ChipVORX den gesamten Prozessablauf, angefangen mit der Programmierung des Target FPGA, der IP-to-Pin-Konfigurierung, der Instrumentensteuerung, sowie der Datenverarbeitung und dem finalen Entladen des IP. Die BERT-Parameter sind im Debug-Mode auch interaktiv ohne Designsynthese veränderbar und werden sofort wirksam. Zur automatischen Generierung der Testprozeduren steht softwareseitig ein in SYSTEM CASCON integrierter Automatischer Application Program Generator (AAPG) zur Verfügung. Dadurch ist der Einsatz der neuen BERT-Lösung sehr effektiv und anwenderfreundlich.

„Mit den neuen ChipVORX-Modellen zum Bit Error Rate Test können wir jetzt auch komplexeste High-Speed-Designs mit seriellen Multi-Lane-Bussystemen höchster Bandbreite abdecken“, freut sich Bettina Richter, Marketing Manager bei GÖPEL electronic.

„Durch die parallele Instrumentierung besteht nicht nur die Möglichkeit, Wechselwirkungen zwischen den Kanälen bei der Design-Validierung zu erkennen, sondern auch die Testzeit auf ein Minimum zu reduzieren. Gleichzeitig treiben wir damit die Nutzung von FPGA Embedded Instruments als wegweisende Lösung zur Qualitätssicherung zugriffskritischer Designs weiter voran“.

www.goepel.com/

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