|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestAutomatische Testlösung für Android-Geräte27. Februar 2015 - JOT Automation, ein Anbieter von Test- und Produktionslösungen, und Profilence, ein junger Anbieter von Testsoftware, präsentieren eine automatisierte Testlösung für einen vollständigen Systemtest von Android-Geräten. JOT G3 mit Profilence Tau ermöglicht eine kürzere Markteinführungszeit und niedrigere Gesamtkosten, da die Geräte in einem zuverlässig wiederholbaren Prozess ganzheitlich getestet werden können. JOT G3 mit Tau prüft jedes Detail des Betriebssystems sowie sämtliche physische Schnittstellen mittels Real-Life-Anwendungsfällen. Es kann einfach an unterschiedliche Gerätetypen, Formfaktoren und Testbereiche angepasst werden. Das System wurde für länger als einhundert Stunden dauernde Testläufe und die wiederholte Nutzung von Testfällen an unterschiedlichen Geräten konzipiert. "Jährlich werden Hunderte Millionen Android-Mobiltelefone verkauft und unzählige Gerätevariationen vorgestellt. Betreiber müssen in kürzester Zeit unzählige Anwendungsfälle testen. Unsere umfassende Lösung ist diesbezüglich ausgesprochen attraktiv, da manuelle Tests kosten- und zeitaufwendig sind", meint Mika Mämmelä, Geschäftsbereichsdirektor bei JOT. "Das System bietet mehr als nur die einfache Information bestanden/fehlgeschlagen. Unsere Lösung bietet eine tiefgehende Analyse eines jeden Testfalls und beschleunigt somit die Ursachenfindung. Alle Ergebnisse, Log-, Video-, Crash Dump- und Profiling-Daten werden in einer Cloud erfasst, womit ein einfacher Datenzugriff für jedes Teammitglied gewährleistet ist", betont Mikko Keskitalo, Geschäftsführer von Profilence. "Darüber hinaus besitzt die Lösung die Fähigkeit, reales Verhalten zu imitieren, indem Unterbrechungen während der Tests zugelassen werden. Beispielsweise kann auf eine Kurzmitteilung geantwortet werden, ohne dass dies die Testgeschwindigkeit beeinträchtigt." Die Unternehmen stellen vom 2. bis 5. März auf dem Mobile World Congress in Barcelona in Halle 5 Stand 5D36 aus. Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |