News - Baugruppen- und System-Test

Flexibler High Speed Test von Gigabit-LAN und eSATA-Schnittstellen

01. März 2016 - GÖPEL electronic hat die Testmöglichkeiten des ChipVORX Module FXT-X32/HSIO4 mittels neuer Adapterkarten für den Test der High Speed Schnittstellen GigaBit-LAN sowie eSATA erweitert. Bisher wurden bereits PCIe 2.0 und USB 3.0 abgedeckt. Das Module FXT-X32/HSIO4 ermöglicht elektrisches Testen auf Board-Ebene sowohl im Labor als auch in der Produktion. Es wird seriell angesteuert und kann an jeden Test Access Port (TAP) angeschlossen werden.

Durch vier Steckplätze für Adapterkarten ist das Modul völlig frei konfigurierbar. Somit lassen sich nun funktionale Verbindungstests für Gbit LAN-Schnittstellen und Bit Error Rate Tests (BERT) Augendiagramme für eSATA-Schnittstellen realisieren.

Die Ausführung des Verbindungstests beruht auf dem Einsatz der ChipVORX Technologie und ermöglicht die Validierung der GBit LAN Verbindung auf Basis eines Protokolltest. Dabei werden die GigaBit-LAN Verbindungen mit 10Mbit/s, 100Mbit/s und 1GBit/s, sowohl im Halb-Duplex-Modus als auch im Voll-Duplex-Modus unterstützt. Durch die neue Lösung können die Interfaces von GigaBit-LAN Targets im Prototypstadium voll dynamisch getestet werden.

BER Tests ermöglichen die qualitative Validierung der High Speed eSATA Lane auf Basis von BER-Augendiagrammen. Dabei wird die eSATA Lane nach eSATA Standard Gen 3 unterstützt. Durch die neue Lösung können die Interfaces von eSATA Targets im Prototypstadium sowohl statisch als auch at-speed voll dynamisch getestet werden.

Das FXT-X32/HSIO4 ist ein flexibles externes Instrument für verschiedenste Testanforderungen und schafft klare Vorteile gegenüber klassischen Funktionstests. Die Boundary Scan Software SYSTEM CASCON ermöglicht dann die automatische Testerzeugung und Test-Abarbeitung, einschließlich des ChipVORX Handlings. Hierbei wird das I/O Modul so behandelt, als ob es quasi mit zur UUT gehört.

www.goepel.com/

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