|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestFlächendeckende, dreidimensionale optische Inspektion von Baugruppen20. Januar 2017 - GÖPEL electronic hat ein Verfahren entwickelt, welches eine schattenfreie 3D-Vermessung von elektronischen Baugruppen in höchster Geschwindigkeit ermöglicht. Mit dem neuen Kameramodul 3D·ViewZ im AOI-Alleskönner Vario Line werden 2D-Bildaufnahme- und 3D-Messtechnologie kombiniert. Orthogonale, telezentrische Bildaufnahme im Zusammenspiel mit jeweils vier Schrägblickmodulen und Streifenprojektoren vermessen Bauteile und Lötstellen in hoher Geschwindigkeit. Alle Inspektionstechnologien kommen aufgrund des gemeinsamen Betrachtungsfeldes (FOV) ohne zusätzliche Achsbewegung zum Einsatz. Der integrierte Rotationsantrieb ermöglicht zudem bis zu 360 Projektionsrichtungen für die 3D-Erfassung, wodurch eine Messung auch in verdeckten Bereichen möglich ist. Gleiches gilt ebenfalls für die Schrägblick-Inspektion, welche somit aus 360 Betrachtungswinkeln erfolgen kann. Ebenfalls vollständig überarbeitet wurde die orthogonale Bildaufnahme, welche durch eine 12 MegaPixel-Kamera mit einer Aufnahmegeschwindigkeit von 180 Bildern pro Sekunde besticht und eine optische Auflösung von 15µm pro Bildpunkt bietet. Sowohl für Schrägblick als auch für orthogonale Bildaufnahmen wurde die bewährte multispektrale und multidirektionale Beleuchtung integriert. Das einzigartige All-in-One Inspektionsmodul steht mit seiner herausragenden Leistungsfähigkeit im inline-AOI-System Vario Line zur Verfügung. www.goepel.com/ Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |