News - Baugruppen- und System-Test

JTAG Test- und Programmierinterface

10. Oktober 2017 - Mit der TIC022-MUX/SR präsentiert GÖPEL electronic eine neue, externe TAP Interface Card (TIC) für den Betrieb mit der Embedded JTAG Solutions Plattform SCANFLEX. Das Modul bildet die Schnittstelle zur Ausführung verschiedener Test- und Programmierprozeduren und kann auch in andere Testsysteme, z.B. In-Circuit-Tester, integriert werden.

TIC022-MUX/SR ist kompatibel zum TIC022/SR, unterstützt darüber hinaus den Multiplexbetrieb mit einem externen Debugger oder Emulator mit COP Interface. Es deckt neben JTAG/Boundary Scan verschiedenste Protokolle wie BDM (Background Debug Mode), SWD (Serial Wire Debug) und SBW (Spy-Bi-Wire) ab. Mit einem weiten Spannungsbereich kann das Modul an den jeweiligen Prüfling optimal angepasst werden.

Alle Signale zum Prüfling sind galvanisch getrennt, der Betrieb ist über Distanzen von bis zu 4 Meter möglich. Durch die Kompatibilität zu anderen TIC-Modulen (TIC022, TIC122, …) und die vollständige Unterstützung durch die Softwareplattform SYSTEM CASCON erhält der Anwender ein zukunftssicheres Testsystem, welches jederzeit durch integrierte Firmware-Updates auf neue Emulations-Protokolle erweitert werden kann.

www.goepel.com/

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