News - Baugruppen- und System-Test

SMT/HYBRID/PACKAGING: Doppelseitiger AOI- und kostengünstiger In-Circuit-Tester

21. Mai 2010 - Zur Messe SMT 2010 stellt Prüftechnik Schneider & Koch aus Bremen erstmals das neue, kompakte ICT-System TI²GER I, sowie das neue optische Inspektionssystem LaserVision CompactTWIN vor.

Beim ICT-System TI²GER I handelt sich um einen leistungsfähigen und gleichzeitig kostengünstigen In-Circuit-Tester. Mit seiner bedienerfreundlichen Testsoftware, den kompakten Ausmaßen, der hohen Testgeschwindigkeit von 800 Messungen/s sowie einem möglichen Pinausbau von bis zu 2.560 Pins eignet er sich nicht zuletzt auch aufgrund der geringen Anschaffungskosten optimal für die Überprüfung kleiner und mittlerer Losgrößen in der Elektronikfertigung. Das System verfügt standardmäßig über einen Programmgenerator, Selbsttestprogramme und Eigenkalibriertools. Mit einem Funktionstesteinschub lässt sich der TI²GER I leicht zum Kombi-Testsystem erweitern.

Doppelseitige AOI-Inspektion

Im Bereich optische Inspektion liegt der Fokus in diesem Jahr auf dem Thema „doppelseitige AOI-Inspektion". Mit dem automatischen optischen Inspektionssystem LaserVision CompactTWIN, das ebenfalls erstmals auf der SMT 2010 zu sehen sein wird, werden neue Dimensionen in der Qualitätssicherung doppelseitig bestückter Baugruppen erreicht. Durch die Integration eines zweiten Testkopfes in das bewährte LaserVision System, können nun doppelseitig bestückte Baugruppen gleichzeitig von oben und unten geprüft werden. Prüf- und Handlingzeiten können so signifikant gesenkt werden. Hoher Durchsatz und Produktivitätssteigerungen sind die Folge. Weiterer Schwerpunkt des diesjährigen Messeauftritts bilden leistungsfähige PXI-Komponenten und Chassis des US-amerikanischen PXI-Spezialisten Geotest, für den Schneider & Koch Alleindistributor in Deutschland ist.

Schneider & Koch ist in Halle 7 auf Stand 7-125 zu finden.

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