Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Baugruppen- und System-Test

Automatische Test Suite für PCI Express 3.0

Tektronix-Clockrecovery16. November 2012 - Tektronix stellt die derzeit flexibelste und vollständigste automatische Konformitäts- und Debug-Testlösung für Sender (Tx) und Empfänger (Rx) des PCI Express 3.0 Standards vor. Durch neue Produkterweiterungen der BERTScope Bitfehlerraten-Tester und der PCI Express-Testsoftware, kann Tektronix jetzt Halbleiter-, Host- und Kartenentwicklern eine vollständige Lösung für den Test von PCI Express 3.0 anbieten.

PCI Express wird mit jeder neuen Generation schneller und komplexer. Bei Geschwindigkeiten von 8 Gb/s erfordert der Test von PCI Express 3.0 komplexe Rx- Stressbedingungen, einen BER-Konformitätstest und zahlreiche Tx-Konformitätstests. Eine vollständige Testunterstützung wird auch beim Debugging fehlerhafter Designs benötigt. Mit den neusten Updates bietet Tektronix jetzt die am höchsten integrierte Unterstützung für einen automatisierten Test und Debugging des PHY Layers von PCI Express 3.0.

"Viele Aspekte des PCIe3 Tests, wie Link Training und Tx Equalization Characterization, sind sehr komplex oder werden von der Design-Gemeinschaft nicht vollständig verstanden", sagt Brian Reich, General Manager Performance Oscilloscopes bei Tektronix. "Mit unserem robusten Automatisierungspaket vereinfachen wir die komplizierten PCIe3 Tests und gewährleisten zudem konsistentere Ergebnisse. Dies bedeutet, dass lange und schwierige Tests, wie Stressed Eye Calibration und Transmitter Compliance Tests, nicht mehr nur von sehr erfahrenen Ingenieuren durchgeführt werden können."

Für PCIe3 Rx-Tests wurde die von der PCI-SIG Testspezifikation geforderte Stressed Pattern Generation automatisiert und enthält jetzt außerdem eine integrierte Unterstützung für Clock Multiplication (Taktmultiplikation) und Eye Opening Tests. Zusätzlich wurde die Loopback-Steuerung des Testobjekts (DUT) automatisiert, was den Testprozess vereinfacht und die Testlaufzeit verkürzt. Die Verbesserungen werden mit Hilfe des neuen DPP125C, der eine Vorverzerrung für die gestressten Pattern erlaubt, dem neuen BSAITS125, einem integrierten Interferenz-Combiner mit variablem ISI, und der neuen BSAPCI3, einer automatisierten Kalibrierungs-, Loopback- und Link-Training-Software, erreicht. Zu den weiteren Komponenten der vollständigen Rx-Lösung gehören der Arbiträr/Funktionsgenerator AFG3000 von Tektronix für einen Test der Gleichtaktstörungen und die erstklassige Taktrückgewinnungseinheit CR286A für die Messung der PLL-Loop Bandwidth. Durch diese Ergänzungen des BERTScope werden keine externen Erweiterungen benötigt.

Tektronix hat seine Lösung für PCIe3 Tx-Tests durch die Integration der SigTest Software der PCI-SIG für Konformitätstests in die TekExpress Automatisierungsplattform der digitalen Oszilloskope der DSA70000 Serie von Tektronix verbessert. Die aktualisierte PCE3-Software erlaubt eine Automatisierung der Testinstrumente und DUT-Steuerung, Pattern-Validierung, Datenerfassung und Analyse mit SigTest sowie ein kundenspezifisches Reporting von mehreren SigTest-Ergebnissen. Die PCE3-Software ermöglicht außerdem einen nahtlosen Übergang zum Debugging, wenn der Konformitätstest nicht erfolgreich beendet wird.

www.tek.com/technology/pci-express


Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

embedded world 2024
09. bis 11. April
zur Terminübersicht...
Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung