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News - Baugruppen- und System-Test

Gestochen scharfe Röntgen-Livebilder und 10-Sekunden-CT

GE-CAD-Overlay12. April 2013 - GE Inspection Technologies präsentiert als Highlight der Produktlinie phoenix|x-ray auf der diesjährigen SMT in Nürnberg die leistungsstarken mikro- und nanofokus Röntgeninspektionssysteme microme|x und nanome|x. Mit ihrem Live-Overlay der Inspektionsergebnisse und CAD-Padinformationen bieten sie eine besonders schnelle und einfache Identifizierung defekter Lötstellen. Der hochdynamische DXR Detektor mit seiner Bildrate von bis zu 30 fps (frames per second) erlaubt eine besonders rauscharme und gestochen scharfe Bildqualität und zugleich CT-Scans elektronischer Bauteile in nur 10 Sekunden.

Auf Stand 425 in Halle 7 haben die Fachbesucher die Möglichkeit sich diese Röntgeninspektionssysteme live auch anhand mitgebrachter eigener Proben vorführen zu lassen. Beide Systeme verfügen standardmäßig über eine offene nanofokus bzw. mikrofokus Röntgenröhre mit 180 kV maximaler Röhrenspannung und 15 bzw. 20 W maximaler Leistung, die eine Detailerkennbarkeit von bis zu 200 Nanometer beim phoenix nanome|x und bis zu 0,5 Mikrometer beim phoenix microme|x ermöglicht. Neben der manuellen oder vollautomatischen 2D Lötstelleninspektion sind die Röntgensysteme der Produktlinie phoenix|x-ray auch hervorragend für 3D-Analysen von Bauteilen mittels Computertomographie geeignet. Der phoenix nanome|x erlaubt sogar extrem hochauflösende nanoCT -Scans mit Voxelauflösungen von wenigen Mikrometern.

www.ge-mcs.com/phoenix/



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