Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Baugruppen- und System-Test

Einführungsveranstaltung zu optischen Inspektionstechnologien

30. Mai 2013 - GÖPEL electronic veranstaltet auch in diesem Jahr wieder eine kostenlose Informationsveranstaltung zur Automatischen Optischen Inspektion (AOI) und Automatischen Lotpasteninspektion (SPI) von elektronischen Baugruppen. Unter der Bezeichnung „AOI/SPI-Schnuppertag“ findet der Workshop am 13. Juni 2013 von 10 bis 17 Uhr in Jena statt.

Dabei können Besucher an Hand der AOI- bzw. SPI-Systeme der OptiCon-Serie erfahren und lernen, wie beispielsweise

•        CAD-Daten importiert und Prüfabläufe erstellt werden,

•        Bibliothekseinträge und Modell-Anlernen funktionieren,

•        Prüfabläufe optimiert werden können und

•        ein AOI- und SPI-System im Fertigungsprozess eingesetzt werden

Erfahrene Applikationsingenieure zeigen anhand von Praxisbeispielen die Erstellung von Prüfprogrammen und beantworten Fragen der Besucher.

www.goepel.com/aoi-schnuppertag/



Weitere News zum Thema:

Keine weiteren News zu diesem Thema vorhanden


Aktuelle Termine

Control 2024
23. bis 26. April
zur Terminübersicht...
Automotive Testing Expo Europe
04. bis 06. Juni
zur Terminübersicht...
PCIM
Sensor & Test
SMTconnect

11. bis 13. Juni
zur Terminübersicht...

  Weitere Veranstaltungen...
  Messe-/Kongresstermine
  Seminare/Roadshows

 


Banner-Werbung