|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestMultifunktionale Boundary-Scan-Tester15. November 2013 - Mit der vielseitigen JT 5705-Serie bringt JTAG Technologies neue Boundary-Scan-Controller für Leiterplattenbaugruppen- und Systemtest auf den Markt. Das völlig neu entwickelte Designkonzept beinhaltet sowohl JTAG/Boundary-Scan-Controllerfunktionen, als auch gemischt analog/digitale I/O-Kanäle. Eine umfassende Schutzbeschaltung der Eingänge sorgt für zuverlässigen Betrieb und niedrigen Wartungsaufwand. Die Verbindung zum Tester erfolgt über eine USB-Schnittstelle. Das erste Mitglied der Serie – JT 5705/USB – wird als Tischgerät geliefert. Es ist in erster Linie gedacht für Applikationen zur Hardware-Validierung während der Entwicklung, für Kleinserien-Produktionstest sowie in bestimmten Fällen für Vorort-Service und Reparatur. Das JT 5705/USB bietet über IDC-Steckverbinder im 2,54 mm Rastermaß zwei 15 MHz Test-Access-Ports (TAPs) und 64 I/O-Kanäle. 56 Kanäle sind rein digital, wobei 16 von ihnen auch über eine Frequenzfunktion verfügen. Die verbleibenden acht I/O-Kanäle können sowohl digital als auch analog genutzt werden. Das Gerät enthält auch ein, vom Anwender programmierbares, FPGA, das applikationsspezifische, digitale I/O-Funktionen bereitstellt. Durch die integrierte „Multi-Sync“-Eigenschaft können mehrere JT 5705/USBs zu einem einzigen JTAG-Controller kombiniert werden, der mehrere TAPs und hunderte von I/Os bietet. Das JT 5705/RMI, das zweite Modell der neuen Serie, ist als 19 Zoll-Instrument mit 1 HE aufgebaut und kann so leicht in Systeme integriert oder als Benchtop-Tester genutzt werden. Diese Einheit bietet über IDC-Steckverbinder im 2,54 mm Rastermaß vier 15 MHz Test-Access-Ports (TAPs) und vier Gruppen zu je 64 Mixed-Signal-I/O-Kanälen. Wie beim USB-Gerät sind 56 der 64 Kanäle rein digital. Hiervon wiederum verfügen 16 Kanäle über Frequenzeingangsfunktionen. Die restlichen 8 Kanäle jeder Gruppe können individuell als digitale oder analoge I/O-Kanäle programmiert werden. Darüber hinaus bietet das JT 5705/RMI insgesamt vier anwenderprogrammierbare FPGAs zur Erstellung applikationsspezifischer, digitaler I/O-Funktionen. Die I/O-Fähigkeiten, wie sie das JT 5705/USB bietet, sind auch separat als JT 5112 Mixed-Signal I/O Scanmodul MIOS verfügbar. Das MIOS-Modul kann in Kombination mit vorhandenen Boundary-Scan-Controllern von JTAG Technologies, wie etwa JT 3705, JT 3710 und JT 37x7 eingesetzt werden, und diese Controller um analoge I/O-Fähigkeiten zu erweitern. „Wir haben sehr viel Feedback aus dem Markt erhalten, wie die nächste Generation von JTAG/Boundary-Scan-Testern aussehen sollte“, berichtet Peter van den Eijnden, Geschäftsführer von JTAG Technologies, „und neben der Nachfrage nach herkömmlichen digitalen I/O-Systemen wurden wir verstärkt nach analogen Stimulus- und Messmöglichkeiten gefragt. Das neue JT 5705s bietet all das und mehr in einem wirklich praktischen und kostengünstigen Gehäuse.“ Mixed-Signal Da der Markt für Boundary-Scan die Grenzen herkömmlicher, digitaler High-Density-Applikationen der Bereiche Mil/Aero und Telekommunikation zunehmend hinter sich lässt, muss sich auch das Test-Equipment entsprechend weiter entwickeln. Die Geräte unterstützen nicht nur JTAG (IEEE 1149.x)-kompatible TAPs mit programmierbaren Schwellen, sie verfügen auch über umfassende I/O-Fähigkeiten für gemischt analog/digitale Signale mit einem programmierbaren Mess- und Stimulusbereich von ±16 V oder 0 – 32 V bei den analogen Kanälen. “Der Sektor der Automobil-Elektronik ist einer der Bereiche, für den wir eine starke Nachfrage nach diesem Produkttyp erwarten. Sehr viele elektronische Steuergeräte erfordern analoge/Sensor Stimuli, die von einem Mikroprozessor erfasst werden. Die Werte können dann mittels emulativer JTAG/Boundary-Scan Testmethoden, wie sie von JTAG Technologies’ CoreCommander-Werkzeugen bereit gestellt werden, überprüft werden“, ergänzt van den Eijnden. Applikationsspezifisch anpassbar Durch die Programmierung des FPGA-Kerns können Anwender ihre eigenen digitalen I/O-Optionen wie CAN-Bus, Zähler/Zeitgeber oder High-Speed-Speicherzugriff entwickeln. Auch IP-Code, der von Websites wie Open Cores zur Verfügung gestellt wird, kann in das FPGA implementiert werden. Der Zugriff darauf erfolgt dann über JTAG Technologies’ eigenes CoreCommander FPGA-Translator-Modul. Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |