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Baugruppen- und System-Test

Agilent stellt neuen Inline In-Circuit Tester vor

Agilent-Inline-ICT14. Januar 2014 – Agilent Technologies hat das neue Inline In-Circuit Testsystem Medalist i3070 Series 5i vorgestellt. Durch einen kompakten Aufbau benötigt das System 33 Prozent weniger Standfläche als konventionelle 3070 Systeme. Das Produkt entspricht den SMEMA Spezifikationen und lässt sich einfach in Produktionslinien für hohe Stückzahlen integrieren. Dies minimiert die notwendigen Eingriffe durch das Bedienpersonal und spart damit Kosten und reduziert das Risiko für Produktschäden durch elektrostatische Entladungen.

Das System nutzt die innovative Short-Wire Fixturing Technologie von Agilent, um die Portierbarkeit, Wiederholbarkeit und Stabilität der Tests zu gewährleisten. Das ergonomische Design erlaubt einen einfachen Austausch der Adapter und eine Durchführung von Routinewartungen.

 “Es gibt einen steigenden Bedarf für voll automatisierte ICT-Lösungen, da die Hersteller weltweit einen Fachkräftemangel in diesem Bereich haben. Unsere Kunden möchten zudem durch ein automatisches Board-Handling die Produktionsqualität verbessern”, sagt NK Chari, Director of Marketing and Support der Measurement Systems Division von Agilent.

Das i3070 Serie 5i enthält alle von ICT-Technologien von Agilent, wie Cover-Extend Technologie und umfassende Boundary-Scan Technologien. Die Forwärtskompatibilität von Standard-Testprogrammen gewährleistet einen einfachen Umstieg von einem Offline- auf einen Inline-Test.

Das neue System ist seit Ende 2013 erhältlich.

www.agilent.com/



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