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News - Baugruppen- und System-Test

5. Technologietag „Baugruppentest“ in Weimar

14. Februar 2014 - National Instruments und GÖPEL electronic laden auch in diesem Jahr Ingenieure und Techniker aus verschiedenen Bereichen der Elektronikindustrie – von Design und Produktion über Qualitätssicherung bis hin zur Applikation – zu einem Technologietag ein, bei dem das Thema „Baugruppentest“ im Fokus steht. Die Veranstaltung findet am 19. März 2014 im Dorint Hotel am Goethepark in Weimar statt.

Fachvorträge von Anbietern innovativer Prüftechnik sowie von Anwendern verschiedener Prüfverfahren präsentieren den aktuellen Stand der Technik, Fall- und Applikationsbeispiele sowie Ausblicke auf Trends und Entwicklungen. Die Teilnehmer können sich ein umfassendes Bild über die zahlreichen Möglichkeiten verschiedenster Prüfverfahren machen und bekommen entscheidende Anhaltspunkte zur Auswahl dieser an die Hand.

Der Technologietag „Baugruppentest“ informiert in diesem Jahr zu folgenden Themenbereichen:

• Allgemeine Strategien zum Test elektronischer Baugruppen

• Optische Inspektionstechnologien (AOI/AXI/SPI)

• JTAG/Boundary Scan

• Chip-embedded Instrumentation

• Funktionstest (FKT)

• Kombination verschiedener Testverfahren

Die Pausen sowie die Podiumsdiskussion bieten den Teilnehmern die Möglichkeit sich über die umfassenden Test- und Prüfmöglichkeiten auszutauschen und mit Experten und Fachkollegen über die Einsatzmöglichkeiten zu diskutieren. Zusätzlich bietet eine begleitende Ausstellung weitere Einblicke in Produkte und Technologien.

www.goepel.com/technologietag-baugruppentest/

www.ni.com/



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