News - Baugruppen- und System-Test

Boundary Scan Technologie für In-Circuit-Tester von Digitaltest

20. Mai 2014 - GÖPEL electronic hat zusammen mit der Firma Digitaltest JTAG/Boundary Scan Lösungen auf der Basis des SFX-TAP6 Moduls zur Integration in die In-Circuit-Tester (ICT) der MTS-Serie von Digitaltest vorgestellt. Durch diese Technologie lassen sich Design-Validierungen, Hardware Debugging, Produktionstests, sowie die Programmierungen von Flash und PLD ohne den Einsatz eine Adaptierung über Nadelbettadapter realisieren.

Das SFX-TAP6 Modul ist eine Plug-In Karte mit platzsparender einfacher Slot-Belegung und bildet das Systeminterface zum Testobjekt, welche von einem SCANFLEX-Controller angesteuert wird. Bis zu 6 parallele Test Access Ports (TAP) stehen mit einem differentiellen Interface zur Verfügung und eigenen sich dadurch auch für komplexe Baugruppen. Die Architektur des Moduls unterstützt sämtliche modernen Technologien zum Embedded System Access (ESA) wie Boundary Scan, Prozessor Emulation und Chip Embedded Instruments. Unterstützte Anschlussmöglichkeiten sind alle Module der Serie TIC02 sowie darüber hinaus 32 PIP-Signale. Ein integriertes SFX9305-Modul dient zum Anschluss von BAC (Bus Access Cables) zum Test von funktionellen Schnittstellen wie USB, LAN, Bluetooth oder CAN in Adaptionen.

Mit dieser Integration eröffnet sich die volle Flexibilität und Leistungsstärke des SCANFLEX-Systems nun auch für die In-Circuit-Tester von Digitaltest. Durch das differentielle Interface können Test- und Programmieroperationen schneller und störsicherer ausgeführt werden als mit herkömmlichen Single Ended Interfaces. Dank der Kompatibilität mit anderen SCANFLEX-Komponenten können die Test- und Programmierprozeduren aus dem Labor direkt übernommen werden. Das SFX-TAP6 Modul ist in der kompletten Transceiver-Karte mit zwei verschiedenen Varianten eingebettet. Während die Version mit Kabelinterface für die Systeme MTS30 und MTS180 ausgelegt ist bedient die Variante mit Vakuuminterface die Systeme MTS300 und MTS888. Von Hardware- als auch Softwareseite ist das Modul nahtlos in die MTS-Testeinrichtung integrierbar.

"In-Circuit-Test und Boundary Scan in kombinierter Form ermöglichen eine hervorragende Testabdeckung. Durch die vollständig integrierte Lösung beider Systeme bieten wir dem Anwender eine professionelle Lösung mit hervorragender Signalqualität und hoher Leistungsfähigkeit“, so Alexander Beck, Team Manager Integration im Bereich Boundary Scan bei GÖPEL electronic. „Die bewährte SCANFLEX Hardwarearchitektur in Verbindung mit der CASCON Systemsoftware bieten eine Fülle von Ressourcen zur Testabdeckung. Der Anwender kann dabei völlig frei aus Testfunktionen des ICT sowie von ESA kombinieren."

"Die seit vielen Jahren bestehende Kooperation zwischen Digitaltest und GÖPEL electronic wird nun durch eine Interfacekarte im Testsystem abgerundet", freut sich Hans Baka, Geschäftsführer bei Digitaltest. "Damit wird die Boundary Scan Hardware direkt im Testsystem untergebracht und steht an der Testerschnittstelle zur Verfügung."

www.goepel.com/

www.digitaltest.de/

• Zurück
• Weiter