Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Baugruppen- und System-Test

Scanunfähige Bereiche mit Boundary Scan testen

Goepel SFX 5296LX23. April 2015 - GÖPEL electronic ergänzt mit dem SFX-5296LX die Produktpalette der JTAG/Boundary Scan Plattform SCANFLEX um ein Mixed Signal I/O Modul der nächsten Generation. Es bietet eine leistungsfähige Lösung zur Erweiterung des Boundary Scan Verfahrens auch auf scanunfähige Partitionen. Dadurch lassen sich beispielsweise auch Baugruppen testen, welche über lediglich einen Boundary Scan-fähigen IC verfügen.

Das SFX-5296LX verfügt pro Kanal über diverse dynamische Testressourcen wie Frequenzzähler, Event-Detector, Arbitrary oder Digitizer. Mit insgesamt 96 Single Ended Kanälen wird der Boundary Scan Test auch auf nicht scanfähige Schaltungsteile wie Steckverbinder, Cluster oder Analog-Interfaces ausgedehnt. Zur Steigerung der Flexibilität ist jeder Kanal als Input, Output und Tri-State konfigurierbar und kann darüber hinaus in vielen Parametern programmiert werden. Dazu gehören schaltbare Pull Up, Pull Down oder wählbare Flankensteilheit der Treiber.

Das neue SFX-5296LX benutzt den parallelen SFX-I/O Bus und ermöglicht daher wesentlich schnellere Datentransfers als die seriell per TAP angesteuerten I/O Module. Aufgrund der pro Kanal verfügbaren Testressourcen sind sowohl statische als auch dynamische at-speed Tests realisierbar, was eine signifikante Verbesserung der strukturellen Fehlerabdeckung und flexiblere Teststrategien ermöglicht. Dabei wird lediglich ein SFX-Slot benötigt, wobei zur Erhöhung der Kanalzahl auch mehrere Module gleichzeitig operieren können.

Das Modul basiert auf dem von GÖPEL electronic entwickelten ASIC CION-LX, einem multifunktionalen Mixed Signal Tester on Chip (ToC). Die Boundary Scan Software SYSTEM CASCON ermöglicht eine umfassende Automatisierung der gesamten Projektentwicklung, von der Einbindung des Moduls in die Testerkonfiguration über die automatische Testerzeugung bis hin zur automatischen Fehlerdiagnose.

www.goepel.com/



Aktuelle Termine

Messtec & Sensor Masters 2017
28. bis 29. März 2017
zur Terminübersicht...
LOPE-C 2017
28. bis 30. März 2017
zur Terminübersicht...
emv 2017
28. bis 30. März 2017
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px