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Baugruppen- und System-Test

Boundary Scan TAP-Transceiver im Rack-Format

Goepel SFX TAP16 G RM FXT29. April 2015 - GÖPEL electronic präsentiert einen neuen SCANFLEX TAP-Transceiver im 19 Zoll Rack-Format, welcher durch 16 parallele Test Access Ports (TAP) das Testen und Programmieren von mehreren Testobjekte ermöglicht. Das platz- und stromsparende SFX-TAP16/G-RM-FXT kann sowohl in der Produktionslinie, als auch bei Applikationen mit größeren Distanzen zum Target wie z.B. HASS/HALT Stresstests eingesetzt werden.

Der TAP-Transceiver bildet das Systeminterface zum Testobjekt und wird von einem zentralen SCANFLEX Controller angesteuert. Die 19-Zoll-Version mit 16 TAPs nutzt externe Testköpfe, welche eine sichere Signalübertragung bei Entfernungen von bis zu 4 Metern möglich macht. Durch die moderne Architektur werden sämtliche Technologien zum Embedded System Access (ESA) unterstützt. Mithilfe dieses Verfahrens lassen sich Produktionstests, Flash-Programmierung und PLD ohne Einsatz von Nadeln oder Proben realisieren.

Das SFX-TAP16/G-RM-FXT wurde speziell für sogenannte Gang-Applikationen entwickelt. Bei dieser Methode werden mehrere UUTs gleichzeitig getestet oder programmiert. Dadurch werden mit nur einem System der Produktionsdurchsatz gesteigert und Investitionskosten in der Massenproduktion gesenkt.

Der TAP-Transceiver kann flexibel an nahezu jede Umgebung und Anwendung angepasst werden, darüber hinaus können unterschiedliche Test- und Programmierstrategien des Embedded System Access frei kombiniert werden.

www.goepel.com/



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