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News - Baugruppen- und System-TestStrategie zum Test von IoT-Komponenten
Es wird per JTAG oder alternative Debug-Interfaces direkt in den Prozessor geladen und gesteuert, wodurch der Nutzer keinerlei native Firmware benötigt. JEDOS bietet eine Fülle von verschiedenen Funktionen zum Test, zur Validierung und Kalibrierung sowie zur Programmierung. Besonders interessant und nützlich sind z.B. Kalibrierfunktionen für DDR RAM Controller um die Zugriffssicherheit zu verifizieren, bzw. durch entsprechende Margin Tests optimierte Initialisierungsparameter zu gewinnen. Durch seine Funktionsweise verschiebt JEDOS die Testbalance noch weiter in das Target hinein und ist damit ein wichtiger Schritt auf dem Weg zur Embedded ATE. Die Vorteile von JEDOS liegen vor allem in der Möglichkeit IoT-Devices umfassend und ohne Einsatz von Firmware testen zu können. Für die Softwareentwickler steht dadurch vorverifizierte Prototyp-Hardware zur Verfügung, die Fehlerisolation wird wesentlich effizienter. "Die rasant fortschreitende Komplexität von IoT-Komponenten stellt auch neue Anforderungen an die Leistungsfähigkeit der eingesetzten Tools, sowohl im Bereich der Design Validierung als auch zum Produktionstest. Genau diese Problematik adressieren wir durch die im Target eingebettete JEDOS Lösung“, freut sich Thomas Wenzel, geschäftsführender Gesellschafter von GÖPEL electronic und CTO der JTAG/Boundary Scan Division. "Gleichzeitig erweitern wir mit diesem Schritt unser Portfolio an Embedded System Access (ESA) Lösungen um eine strategisch extrem wichtige Komponente für den diagnostischen Real Time Test ohne native Firmware." JEDOS ist das erste Resultat der zu Beginn des Jahres bekanntgegebenen Kooperation mit der US-amerikanischen Firma KOZIO. Die Partnerschaft zielt auf die Entwicklung neuartiger Embedded Tools in mehreren Ausbaustufen ab. Weitere News zum Thema: |
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