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Baugruppen- und System-Test

PXI-basiertes Wireless Test System für Produktionsprüfung von Mobilfunkgeräten

NI WTS05. August 2015 - National Instruments stellt mit dem Wireless Test System (WTS) eine Lösung vor, mit der die Kosten für Produktionstests von Mobilfunkgeräten in der Großserienfertigung deutlich gesenkt werden können. Trotz zunehmender Komplexität der Tests von Mobilfunkgeräten können Unternehmen die Testkosten ohne Weiteres reduzieren und den Durchsatz in der Produktion vervielfachen. Erreicht wird dies wird durch den Einsatz von Systemen, die für Messgeschwindigkeit und paralleles Testen optimiert sind.

Auf Basis der neuesten Hardwareentwicklungen der PXI-Plattform bietet das WTS eine durchgängige Plattform für das Testen mehrerer Standards und mehrerer Prüflinge. Zusammen mit flexibler Software zur Entwicklung von Testplänen wie dem TestStand Wireless Test Module können Hersteller die Auslastung ihrer Messgeräte wesentlich verbessern, indem sie mehrere Prüflinge parallel testen. Wegen seiner integrierten Ansteuerung der Prüflinge, den Mechanismen zur dezentralen Automatisierung sowie fertiger Testpläne für Chipsätze von Herstellern wie Qualcomm und Broadcom lässt sich das WTS einfach in eine Fertigungslinie integrieren. Aufgrund dieser Besonderheiten verzeichnen Anwender beträchtliche Effizienzsteigerungen bei der Nutzung ihrer RF-Prüfgeräte und weitere Senkungen der Testkosten.

„Wir sind in der Lage, mit dem NI Wireless Test System sämtliche drahtlosen Standards, von Bluetooth über WLAN bis hin zu GPS und Mobilfunk, mit ein und demselben Gerät zu testen“, erklärt Markus Krauss, HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. „Das WTS sowie das Know-how von NOFFZ auf dem Gebiet der HF-Testsysteme haben es uns ermöglicht, die Testzeit sowie die Einrichtungs- und Inbetriebnahmezeit unserer Testsysteme deutlich zu reduzieren.“

Das WTS basiert wie das 2014 vorgestellte Semiconductor Test System auf der PXI-Hardwareplattform und der Software LabVIEW sowie TestStand von NI. Es unterstützt Funkstandards von LTE Advanced über 802.11ac bis hin zu Bluetooth Low Energy und ist für Produktionstests von WLAN Access Points, Mobilfunkgeräten und Infotainment-Systemen sowie für Produktionstests aller möglichen anderen Geräte ausgelegt, in die z. B. Mobilfunk-, WLAN- oder Navigationsfunktionen integriert sind. Die im WTS verwendete SDR-Technologie des PXI-Vektorsignal-Transceivers ermöglicht bessere RF-Leistungsmerkmale bei Produktionstests und schafft eine Plattform, die flexibel an die wechselnden Anforderungen an RF-Tests angepasst werden kann.

www.ni.com/



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