News - Baugruppen- und System-Test

Flexibles Testmodul für High Speed Schnittstellen

21. Januar 2016 - Mit der neuesten Version des ChipVORX Moduls FXT-X3/HSIO4 präsentiert GÖPEL electronic eine Erweiterung zum Test von High Speed Interfaces mithilfe des Bit Error Rate Tests (BERT), wobei PCI 2.0, USB 3.0 sowie erstmals 1G LAN unterstützt werden. Die neuen Eigenschaften erlauben detaillierte Testaussagen bei hoher Prüfgeschwindigkeit, wodurch sich das Modul für verschiedenste Testaufgaben eignet.

Das FXT-X3/HSIO4 ermöglicht das elektrische Testen auf Board-Ebene sowohl im Labor als auch in der Produktion. Es wird seriell angesteuert und kann an jeden Test Access Port (TAP) angeschlossen werden. Für PCIe und USB-Schnittstellen wird ein Multiple Point BERT angeboten. Dieser ermöglicht es dem Nutzer, Messpunkte für den BER-Test selber zu definieren. Die Definition umfasst neben dem Messpunkt auch die Anzahl der Messungen sowie die Anzahl der maximal erlaubten Fehler. Bei Überschreitung der Fehlergrenze an einem Messpunkt wird der Test mit Fail beendet; für die Definition der Messpunkte stehen entsprechende Tools und Templates bereit.

Mit dem neuesten FXT-X3/HSIO4 steht nun ein Testverfahren zur Verfügung, welches eine genauere Qualifizierung auf Basis des einfachen Bit Error Rate Test ermöglicht. Durch vier Steckplätze für Adapterkarten ist das Modul völlig frei konfigurierbar. Darüber hinaus können mit individuellen Adapterkarten auch spezifische Interfacearten angepasst werden. Die Boundary Scan Software SYSTEM CASCON ermöglicht die automatische Testerzeugung und Testausführung. Das FXT-X3/HSIO4 ist ein flexibles externes Instrument für verschiedenste Testanforderungen und schafft klare Vorteile gegenüber klassischen Funktionstests.

www.goepel.com/

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