Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

News - Baugruppen- und System-Test

Trace- und Breakout-Adapter für neue AURIX Prozessoren

Hitex AURIX ADAPTER13. Februar 2017 - Hitex hat für die zweite Generation der AURIX-Mikrocontroller von Infineon Trace- und Breakout-Adapter entwickelt, die Tracedaten und Prozessorsignale der neuen AURIX-TC3xx-Familie einfach zugänglich machen. Mit den neuen Adaptern für AURIX TC3x7 und TC3x9 können Entwickler das Programmverhalten analysieren und die Echtzeitfähigkeit der Applikation absichern.

Die Adapter werden anstelle des Serienprozessors mit der Zielhardware verbunden und erlauben den Zugang zu detaillierten Trace-Informationen und zu den I/O-Pins. Für die hohen Frequenzen und Signalleitungen des Trace sind keine Änderungen im Hardware-Design erforderlich.

Zusätzlich ist die neue Adaptergeneration mit einer Schnittstelle für DAPE (Debug Access Port for Emulation Device) ausgestattet, wodurch der Anschluss von zwei Debuggern möglich ist. Die Adapter sind für die Bauformen BGA292 und BGA516 verfügbar und werden individuell nach Kunden-Anforderungen bestückt.

www.hitex.com/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

SPS/IPC/DRIVES 2017
28. bis 30. November 2017
zur Terminübersicht...
emv 2018
20. bis 22. Februar 2018
zur Terminübersicht...
embedded world 2018
27. Februar bis 01. März 2018
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px