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News - Baugruppen- und System-Test

Offener Datenaustausch zwischen Inspektionssystemen

Viscom Q Uplink02. Mai 2017 - Mit dem Viscom Quality Uplink und der statistischen Prozesskontrolle (SPC) von Viscom haben Nutzer von Inspektionssystemen wie S3088 SPI, S3088 ultra gold oder X7056RS Werkzeuge in der Hand, die ihnen vielseitige Datenverknüpfungen und Auswertungsoptionen zur Verfügung stellen. Jetzt geht es mit dem neuen Feature Viscom Open Interface 4.0 einen entscheidenden Schritt weiter: Informationen können nun herstellerunabhängig zusammengeführt werden.

Viscom Open Interface 4.0 ist zunächst für die Software-Plattform SI verfügbar und besteht aus zwei Komponenten: Bei der Ersten handelt es sich um eine offene Schnittstelle zu SPI-Systemen (Lotpasteninspektion) beliebiger Hersteller. Bei der zweiten geht es darum, den Anwendern große Mengen an Informationen aus den Prüfprozessen für vielfältige Auswertungen zur Verfügung zu stellen.

Die offene SPI-Schnittstelle ermöglicht es vor allem, Ergebnisse aus der automatischen optischen Inspektion (AOI) und der Röntgenprüfung (AXI/MXI) von Viscom mit den SPI-Daten eines anderen Systemherstellers so zusammenzuführen, dass der Anwender den Herkunftsunterschied praktisch gar nicht bemerkt. Er kann am Verifikationsplatz SPI-Bilddaten aufrufen und sie dort mit SPI-Prüfergebnissen und -Messwerten sowie den verschiedenen Viscom-Inspektionsdaten verknüpfen. Hat das SPI-System Lotdepots als fehlerhaft klassifiziert, kann es zudem von den mit ihm vernetzten Viscom-Systemen zusätzliche Bildaufnahmen anfordern. Für diese Funktionen stellt Viscom in standardisierter Form eine dynamische Programmbibliothek sowie Funktionsaufrufe bereit, die es anderen Anbietern von SPI-Systemen ermöglichen, ihre Software mit der Viscom-Schnittstelle zu verbinden.

Beim zweiten Bestandteil des Viscom Open Interface 4.0 handelt es sich um sehr leistungsfähige Schnittstellen für Big Data. Der Hintergrund: Fertigungsprozesse stellen heute vielfältige Informationen bereit, die in den Unternehmen für prozessrelevante Auswertungen genutzt werden. Viscom-Inspektionssysteme können zu genau diesem Zweck pro Leiterplatte Informationsmengen im Megabyte-Bereich zur Verfügung stellen. Dazu gehören u. a. Prüfergebnisse und Bauteilnamen. Vorausgesetzt, dass auch andere Systeme die Datenbank des Kunden in ähnlicher Weise bedienen, lassen sich z. B. auf Basis des Bauteilnamens Querbezüge herstellen, die sonst verborgen blieben.

Als Fazit lässt sich festhalten: Die Möglichkeiten der Vernetzung von 3D-SPI, -AOI, -AXI und -MXI aus einer Hand bieten weiterhin klare Vorteile, denn die dazugehörige Software-Plattform ist in der Regel von Haus aus optimal auf die Kommunikation der Systeme untereinander ausgelegt. Die Daten der Inspektionssysteme von Viscom können darüber hinaus aber auch in Datenbanken mit unterschiedlicher EDV zur Steuerung der Produktion fließen und die Prüfergebnisse mit denen aus SPI-Systemen anderer Hersteller verknüpft werden. Das neue Viscom Open Interface 4.0 bestätigt damit, dass Industrie 4.0 längst in der Praxis angekommen ist.

www.viscom.de/



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