News - Baugruppen- und System-Test

Kombination von In-Circuit- und Boundary Scan-Test

04. November 2010 - Digitaltest GmbH und JTAG Technologies haben gemeinsam Boundary-Scan Testverfahren von JTAG Technologies in die In-Circuit-Testsysteme der MTS-Serie von Digitaltest integriert. Dadurch lässt sich eine höhere Testabdeckung und bessere Programmierbarkeit von komplexen elektronischen Baugruppen innerhalb eines einzelnen Prozessschrittes erreichen.

Die SIGMA  'Kombinations'-Testsysteme von Digitaltest bieten umfassende Kurzschluss/Unterbrechungs-, Analog-, Funktions-, serielle Bussystem- (I2C, CAN etc.) und 'vektorlose' Testmöglichkeiten und sind dadurch sehr vielseitig einsetzbar. Mit Hilfe der integrierten Boundary-Scan Testfunktionen - von JTAG Technologies- lassen sich die Testmöglichkeiten jetzt noch weiter verbessern.

Die Boundary-Scan-Option von JTAG Technologies ermöglicht einen Zugang sowohl für Testfunktionen, als auch für eine In-System-Programmierung (ISP) mit hohem Durchsatz über den dedizierten IEEE 1149.x Hardware-Controller JT 3727/DPC, der über vier TAPs verfügt und gemeinsam mit Digitaltest entwickelt wurde.

Die Testlösung bietet derzeit eine ISP-Unterstützung für NOR-, NAND- und serielle Flash-Bauteile, plus viele Microcontroller-Familien mit embedded Flash-Speicher (siehe SCIP-Daten) sowie IEEE Std 1532 CPLD und ältere PLDs.

Ute Boctor, President von Digitaltest, meint:  "Unsere Kunden haben sich die Integration von Boundary-Scan Testfunktionen in unsere Produkte gewünscht. Um diese Anforderungen für leistungsfähige digitale Tests und eine umfassende ISP-Unterstützung für viele Bauteile erfüllen zu können, haben wir gemeinsam mit JTAG Technologies eine integrierte Lösung entwickelt. Unseren Kunden ermöglicht dies nun eine höhere Testabdeckung, wobei die gewohnte konsistente Benutzerschnittstelle erhalten bleibt. "

Die Digitaltest-Testsysteme mit JTAG Boundary Scan-Testmöglichkeiten sind ab sofort über das weltweite Vertriebsnetz von Digitaltest erhältlich.

www.jtag.com

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