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Baugruppen- und System-Test

electronica_2010Neues Tool  von ASTER Technologies zur Yield-Abschätzung

05. November 2010 - ASTER Technologies zeigt auf der electronica 2010 in Halle A1, Stand 352, sein neues Produkt zur Yield-Abschätzung (Yield Estimation). Das neue Tool ist eine Erweiterung der bewährte Softwarelösung TestWay, die bereits in einer frühen Phase der Produktentwicklung eine Testability- und Testcoverage-Analyse ermöglicht.

 

Die Möglichkeit, die Linienausbeute (First Pass Yield FPY) und weitere Qualitätskennzahlen des IPC bestimmen zu können, hat im Umfeld steigender Fremdvergabe der Produktion von Hightech-Produkten an Dienstleister erheblich zugenommen. Projektteams und ihre Leiter benötigen möglichst genaue Abschätzungen über die Linienausbeute, um den Aufwand für Test und Fehlersuche, sowie die benötigten Testsysteme und das erforderliche Personal budgetieren und planen zu können. Darüber hinaus muss meistens das Management potenzielle Dienstleister einer Benchmark unterziehen, um ihre Qualitätsfähigkeit zu bewerten.

Bei qualitätsbasierten Testmodellen werden die Testkosten aus der First-Pass-Yield Linienausbeute abgeleitet, die wiederum auf einer Qualitätsanalyse des Produktdesigns und der einzelnen Schritte im Produktionsprozess beruht. Für alle Kostentreiber werden die ppm-Fehlerraten jedes Produktionsprozesses errechnet. Die prognostizierten Fehlerraten werden auf Produktebene hochgerechnet. Somit kann die Teststrategie ausgewählt werden, die die geringsten Gesamtkosten für Test und Nacharbeit aufweist.

Die wichtigste Kennzahl zur Bewertung der Qualität eines gelieferten Produktes ist die Fehlerschlupfrate. Ein durchgeschlüpfter Fehler (Escape) ist ein Fehler, der nicht durch eigene Tests, sondern vom Endkunden erkannt wurde. Fehler, die der Kunde entdeckt, sind nicht nur extrem teuer, sondern schaden auch dem Image des Unternehmens.

Christophe LOTZ, Geschäftsführer von ASTER formulierte es so: „TestWay Express ist die perfekte Antwort auf die entscheidende Frage, wie die Anzahl der gelieferten fehlerbehafteten Produkte minimiert werden kann, um mögliche Rücklieferungen zu minimieren.

TestWay Express prognostiziert die Produktionsausbeute, indem es die in ppm ausgedrückten Fehler pro einer Million Fehlermöglichkeiten (DPMO) in Echtzeit aus den Fertigungsprozessen importiert und die Teststrategie danach ausrichtet, die bestmögliche Testabdeckung dieser Fehler zu erzielen und so den Fehlerschlupf zu minimieren.

Dass ein Test fehlerfrei abgeschlossen wird, heißt nicht notwendigerweise, dass die Baugruppe auch in Ordnung ist, ebenso kann die Testabdeckung lückenhaft sein. Daher ist es wichtig, mittels der IPC Qualitätskennzahlen die Fehler in TestWay Express mit der Testabdeckung zu verknüpfen.

Die Testabdeckung wird anhand theoretischer Modelle für Test- und Inspektionsstrategien wie APM, AOI, AXI, BST, FPT, ICT oder Funktionstest abgeschätzt. Dabei werden die Modelle an die Möglichkeiten der jeweiligen Testsysteme angepasst.

Sobald die Test-/Inspektionsprogramme fertiggestellt sind, kann TestWay Express das debuggte Testprogramm bzw. den Testbericht einlesen. Unter Verwendung von Industriestandard-Kennzahlen wird dann die abgeschätzte Testabdeckung mit der messtechnisch erreichten verglichen, um so Abweichungen aufzuspüren.

Für zahlreiche gängige Test-/Inspektionssysteme stehen über 45 Import-Tools für die Testabdeckung zur Verfügung. Zu den unterstützten Herstellern bzw. Systemen gehören Acculogic (BS, Scorpion, SPRINT); Aeroflex (4200, 5800); Agilent Technologies (i1000, i3070, 5DX, SJ10, SJ50); ASSET; CHECKSUM; CORELIS; CyberOptics, Dr. Eschke; GOEPEL (CASCON, OPTICON); JTAG Technologies; Mirtec; MYDATA, OMRON; Orbotech; SAKI; SEICA; SPEA (3030, 4040); TAKAYA (APT8000, APT9000); Teradyne (Z1800, Spectrum, GR228x, TS124); TRI (TR7500, TR8001); VI Technology; VISCOM; XJTAG und YESTech.

www.aster-technologies.com


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