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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestTest von Hochfrequenz-Halbleitern mit hoher Parallelität14. Juli 2016 – Advantest hat die Wave Scale Karten für die V93000 Plattform vorgestellt, die sich durch einen höchsten Durchsatz beim Test von HF- (Hochfrequenz-) und Mixed-Signal-ICs für die drahtlose Kommunikation auszeichnen. Die neuen V93000 Wave Scale RF und V93000 Wave Scale MX Karten wurden speziell für hochparallele Multi-Site- und parallele In-Site-Tests entwickelt. bsw übernimmt Vertrieb für kompakte IC-Testplattform von Advantest08. Juli 2016 - Advantest und die die bsw TestSystems & Consulting mit Sitz in Sindelfingen haben eine Vertriebskooperation für das neue Mixed Signal IC-Testsystem EVA100 (Evolutionary Value Added Measurement System) vereinbart. Die Vereinbarung gilt ab sofort und für Deutschland, Österreich, Schwiez und Benelux. Die-Handling-System für KGD-Sortierung09. Juni 2016 – Advantest Corporation stellt mit dem neuen Die-Handler HA1000 eine kostengünstige Testlösung für die KGD-Sortierung (Known Good Die) vor dem IC-Packaging vor. Der Advantest HA1000 erlaubt einen Test unterschiedlichster Bauteile, von großen Hochleistungsserver-/GPU-Bauteilen bis hin zu kleinen System-on-Chip- (SoC) und Memory-Bauteilen/Stacks, wie HBM2. Der Die-Handler eignet sich sowohl für dicke als auch dünne Bauteile, aber auch für Stacks von 3D-Bauteilen sowie teilweise oder komplett montierten 2.5D-Integrationen. Elektrochemische Impedanzspektroskopie bei Batteriezellen03. Mai 2016 – Mithilfe der elektrochemischen Impedanzspektroskopie (kurz EIS) lässt sich das dynamische Verhalten von elektrochemischen Systemen untersuchen, wodurch auch die elektrische Charakterisierung von Batterien möglich ist. Es wird die Impedanz in einem bestimmten Frequenzbereich gemessen, indem eine Frequenz am Eingang angelegt und die Phasenverschiebung und Amplitude am Ausgang gemessen wird. Mit dem Frequenzgangmessgerät PSM3750 von Newtons4th lassen sich Messungen von 10μHz bis 50MHz durchführen. Universelle IC-Testsockel für unterschiedliche Gehäusetypen24. März 2016 – Yamaichi Electronics stellt die neuen Testsockel-Serien IC561, IC564 und NP584 vor. Die Testsockel sind außerordentlich vielseitig einsetzbar, so dass sie für unterschiedliche Gehäusetypen mit unterschiedlichen Abmessungen, Bauhöhen und Rastermaßen verwendet werden können. Als „halb kundenspezifische“ Lösung zum Standardpreis eignen sie sich für alle Gehäusen der Typen QFN (Quad Flat No Leads), SON (Small Outline No Leads), BGA (Ball Grid Array), CSP (Chip Scale Package) und LGA (Land Grid Array). Universelles analoges Pin-Modul für den Bauteiltest11. März 2016 – Advantest Corporation hat mit der Auslieferung des neuen DC Scale AVI64 Moduls begonnen. Die skalierbare V93000 Plattform bietet damit das derzeit auf dem Markt breiteste Anwendungsspektrum. Mit der innovativen universellen analogen Pin-Architektur von Advantest erweitert das 64-Kanal-Modul den Einsatzbereich der V93000 Plattform auf den Test von Leistungs- und Analog-ICs. Diese kommen in intelligenten, vernetzten Elektronikgeräten der schnell wachsenden Mobilfunk-, Automotiv- und IoT- (Internet der Dinge) Märkte zum Einsatz. Batterie-Emulatoren und Batterie-Lade/-Entladegeräte für verschiedenste Anwendungen04. März 2016 – Caltest Instruments bietet mit den innovativen Hochvolt-Batterie-Emulatoren und Batterie-Lade-/Entlade-Testgeräten von Cinergia umfassende Lösungen für Batterietests an. Bei beiden Gerätearten handelt es sich um 2-Quadranten DC-Quellen, die bis zu 100% Rückspeisung ins Netz ermöglichen und mit Leistungen von 6,75 kW bis 160 kW, mit einer Spannung bis 750 VDC und Strömen bis ±690 ADC verfügbar sind. Weitere Beiträge ...
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