News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Charakterisierung und Formatierung von Batteriezellen

Keysight BT2152A 15. Dezember 2017 - Keysight Technologies stellt eine neue Zellen- und Batterieleistungs-Testlösung für die Charakterisierung von Zellen unter Lade- und Entladebedingungen vor. Die Lösung lässt sich sehr schnell an die jeweilige Anwendung anpassen und beschleunigt damit die Markteinführung neuer Produkte.

Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung

Advantest M4171 05. Dezember 2017 – Advantest hat den Handler M4171 entwickelt, um den Marktanforderungen in der mobilen Elektronik gerecht zu werden. Hier verlangt man nach einem kostengünstigen thermisch kontrollierbaren Test von ICs, die während der Bauteilcharakterisierung und im Prototypenstadium eine hohe Verlustleistung aufweisen. Das neue Handling-System reduziert Testkosten, erhöht die Produktivität und ermöglicht den Fernzugriff von überall auf der Welt.

Charakterisierung von neuen Speichertechnologien

Keysight NX5730A 27. September 2017 – Keysight Technologies präsentiert eine dedizierte Lösung für die Charakterisierung von magnetischen Tunnelkontakten (MTJ, Magnetic Tunnel Junction) für STT-MRAM (Spin Transfer Torque Magnetoresistive Random Access Memory) Speicherzellen. Die neue NX5730A High-Throughput 1 ns Pulsed IV Memory Testlösung wurde speziell für Forscher und Entwicklungsingenieure entwickelt, die MTJ-Speicherzellen auf Silizium-Wafern charakterisieren müssen.

Prüfstand für Gebläse

MCD Gebläsetest 23. August 2017 - MCD Elektronik hat im Kundenauftrag eine End-of-Line Prüfanlage für Gebläse entwickelt. Die Querstromgebläse sind Teil von Kleinheizern, die in Klimaanlagen und in Bodenheizgeräten für Busse und Bahnen integriert werden. Mit dem Testgerät werden die verschiedenen Stufen der Gebläse überprüft, Spannungs- und Strommessungen sowie Dichtheitsprüfungen vorgenommen. Die Prüfeinrichtung befindet sich auf einem Rollwagen, der bequem an seinen Einsatzort gefahren werden kann. Die Bedienperson kontaktiert die Gebläse mit Schnelladaptern. Über einen Touchscreen- Monitor erfolgt die Eingabe und Anwahl der Fertigungsaufträge innerhalb der Serienfertigung.

Massiv-paralleler Testadapter für Prüfung von Display-Treiber-ICs

Advantest T6391 21. August 2017 – Advantest hat mit dem RND440 Type 3 Testadapter eine optionale Erweiterung für das T6391 Display-Treiber-IC-Testsystem (DDI) vorgestellt. Die Erweiterung ermöglicht einen massiv parallelen Test von CoF-Packages (Chip-on-Film) für die neuste Generation von Smartphone-Displays. Der Adapter wurde speziell entwickelt, um auf die immer höheren Pin-Zahlen von DDIs, höhere Geschwindigkeiten der Schnittstellen und hoch integrierte Funktionen hochauflösender Displays reagieren zu können.

Kompakter Vektornetzwerkanalysator für S-Parameter-Messungen

RS ZNLE 16. August 2017 - Mit dem neuen Vektornetzwerkanalysator R&S ZNLE bringt Rohde & Schwarz herausragende HF-Performance und außergewöhnlich hohe Messgeschwindigkeit in die untere Preisklasse. Der R&S ZNLE adressiert die Anforderungen von Kunden, die HF-Messungen zur Charakterisierung von Komponenten wie Antennen, Dämpfungsgliedern, Filtern und Leiterplatten durchführen möchten. Das neue Tischgerät wiegt nur 6 kg und benötigt mit einer Stellfläche von 408 mm x 235 mm bis zu zwei Drittel weniger Platz auf dem Arbeitstisch als vergleichbare Produkte.

Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs

Advantest MPT3000 14. August 2017 – Advantest ermöglicht durch Optimierungen der MPT3000 Serie eine höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs (Sold-State-Drive). Durch die Erweiterungen kann die Produktlinie, von der bereits Hunderte Systeme installiert sind, mehr Test-Insertions in der Entwiclung, der Produktion kleiner Stückzahlen und in BIST-Anwendungen (Built-in Self-Test) abdecken. Dies ist mit der selben MPT3000 Architektur und derselben Software möglich. Die modulare Tester-per-DUT-Architektur (Device under Test) und einzigartige Hardware-Beschleunigung des MPT3000 unterstützt nun alle Protokolle und Formfaktoren von SSDs.

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