News - Bauteil-/Halbleiter-Test

John P. Kummer erweitert Produktportfolio

18. April 2018 - Die John P. Kummer GmbH hat ihr Produktspektrum durch die Zusammenarbeit mit zwei neuen Lieferanten ausgebaut. Hinzugekommen sind die Firmen XwinSys mit Produkten aus dem Bereich der Röntgeninspektion und ITC mit Probe-Card-Analysatoren und Testsystemen für Leistungshalbleiter.

High-Speed-Tester für schnelle Speicher-ICs

Advantest T5503HS2 11. April 2018 – Advantest hat seinen T5503HS2 Memory Tester vorgestellt. Die produktivste Testlösung der Branche ist sowohl für die schnellsten aktuellen Speicherbausteine als auch für die Super-High-Speed DRAMs der nächsten Generation geeignet. Die Flexibilität des neuen Systems erweitert die Möglichkeiten der T5503 Produktfamilie im gegenwärtigen „Super Cycle“, in dem die weltweite Nachfrage nach Speichern exponentiell ansteigt.

Bauteiltester für Automotive-Leistungshalbleiter

Advantest T2000AiR 30. Januar 2018 – Advantest hat zwei neue Module für sein T2000 IPS System vorgestellt. Diese ermöglichen den Test von Hochspannungs- und Hochleistungs-Bauteilen, die im Antriebsstrang von elektrischen Fahrzeugen (EV/HV) zum Einsatz kommen. Die neuen verbesserten MMXHE- (Multifunction Mixed High Voltage) und MFHPE-Module (Multifunction Floating High Power) erlauben eine massiv parallele Hochleistungsprüfung.

Testzelle für Differenzdrucksensoren

Advantest ha7300 17. Januar 2018 – Advantest hat mit der Stimulus-Testzelle HA7300 eine leistungsfähige Lösung zur Prüfung von Differenzdrucksensoren vorgestellt. Derartige Sensoren kommen in modernen Automobil-Designs zum Einsatz, wo sie einen geringen Kraftstoffverbrauch und einen umweltfreundlichen Betrieb gewährleisten. Die neue Testzelle erweitert die Fahrzeug-Sensoren Testabdeckung und trägt durch eine bessere Prüfung zu einer verbesserten Kraftfahrzeugfunktionalität bei.

Charakterisierung und Formatierung von Batteriezellen

Keysight BT2152A 15. Dezember 2017 - Keysight Technologies stellt eine neue Zellen- und Batterieleistungs-Testlösung für die Charakterisierung von Zellen unter Lade- und Entladebedingungen vor. Die Lösung lässt sich sehr schnell an die jeweilige Anwendung anpassen und beschleunigt damit die Markteinführung neuer Produkte.

Automatisierter IC-Handler mit Thermosteuerung

Advantest M4171 05. Dezember 2017 – Advantest hat den Handler M4171 entwickelt, um den Marktanforderungen in der mobilen Elektronik gerecht zu werden. Hier verlangt man nach einem kostengünstigen thermisch kontrollierbaren Test von ICs, die während der Bauteilcharakterisierung und im Prototypenstadium eine hohe Verlustleistung aufweisen. Das neue Handling-System reduziert Testkosten, erhöht die Produktivität und ermöglicht den Fernzugriff von überall auf der Welt.

Charakterisierung von neuen Speichertechnologien

Keysight NX5730A 27. September 2017 – Keysight Technologies präsentiert eine dedizierte Lösung für die Charakterisierung von magnetischen Tunnelkontakten (MTJ, Magnetic Tunnel Junction) für STT-MRAM (Spin Transfer Torque Magnetoresistive Random Access Memory) Speicherzellen. Die neue NX5730A High-Throughput 1 ns Pulsed IV Memory Testlösung wurde speziell für Forscher und Entwicklungsingenieure entwickelt, die MTJ-Speicherzellen auf Silizium-Wafern charakterisieren müssen.

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