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Top 5 News der letzten 30 Tage
- 25. Juli 2018 - Test- und Zertifizierungsdienstleistungen für neue eCall Richtlinie UN - R 144
- 19. Juli 2018 - Mixed-Signal-Oszilloskop mit gleichzeitiger 25 GS/s Abtastrate auf 4 Kanälen
- 20. Juli 2018 - Test von Netzabdeckung und Servicequalität in IoT-Netzwerken
- 16. Juli 2018 - Effizientere Erstellung und Ausführung von JTAG-Testvektoren
- 23. Juli 2018 - USB-Oszilloskop zur Überwachung und Protokollierung der Netzspannung
News - Bauteil-/Halbleiter-Test
Höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs
14. August 2017 – Advantest ermöglicht durch Optimierungen der MPT3000 Serie eine höhere Testabdeckung bei der Prüfung von SSDs (Sold-State-Drive). Durch die Erweiterungen kann die Produktlinie, von der bereits Hunderte Systeme installiert sind, mehr Test-Insertions in der Entwiclung, der Produktion kleiner Stückzahlen und in BIST-Anwendungen (Built-in Self-Test) abdecken. Dies ist mit der selben MPT3000 Architektur und derselben Software möglich. Die modulare Tester-per-DUT-Architektur (Device under Test) und einzigartige Hardware-Beschleunigung des MPT3000 unterstützt nun alle Protokolle und Formfaktoren von SSDs.
Test von hochauflösenden Wandlern, Consumer-Audio-ICs und IoT-Bauteilen
03. August 2017 – Advantest hat seine Wave Scale MX Produktfamilie um eine hochauflösende, hochgenaue Mixed-Signal-Kanalkarte ergänzt. Damit wurden die Testmöglichkeiten der Serie auf den Test von Analog-Digital- und Digital-Analog-Wandlern erweitert. Die neue Wave Scale MX Karte ermöglicht der Advantest V93000-Testplattform eine hohe Genauigkeit und Linearität beim Test von Analog- und Digital-Wandlern. Außerdem können die Testkosten und die Time-to-Market für Consumer-Audio- und IoT-Bauteile reduziert werden.
Tests nach UNECE R10 und R100 für Zulassung von Elektrofahrzeugen
13. Juli 2017 - Ab sofort bietet die Batteryuniversity GmbH den Test und die Zertifizierung von batteriebetriebenen Elektrofahrzeugen nach United Nations Economic Commission for Europe (UNECE) R100 und R10 an. Diese sind für die Erfüllung europäischer Verordnungen und Richtlinien verbindlich vorgeschrieben. Zusammen mit dem niederländischen Kooperationspartner DEKRA prüft die Batteryuniversity alle Anforderungen und führt die Zulassung bei der nationalen Behörde durch.
Charakterisierung breitbandiger Millimeterwellen-Designs
12. Juli 2017 – Keysight präsentiert mit dem N5290/91A eine breitbandige Millimeterwellen-Netzwerkanalysatorlösung mit bislang unerreichter Systemgenauigkeit über den gesamten Frequenzbereich bis 120 GHz. Die neue Testlösung bietet eine extrem hohe Amplituden- und Phasenstabilität von <0,015 dB bzw. <0,15° über 24 Stunden und ermöglicht dadurch eine äußerst genaue Charakterisierung und Modellierung von Wafern, Bauteilen und Geräten.
Kostengünstiger Wafer-Level Test unterschiedlicher Halbleiterspeicher
30. Juni 2017 – Advantest stellt mit dem neuen Memory-Tester T5822 das neueste Mitglied seiner T5800 Produktserie vor. Dieser ist für den Test von DRAM-, NAND- und anderen nicht-flüchtigen Speicher-Bauteilen auf Wafer-Ebene optimiert. Derartige Bauteile kommen in tragbaren elektronischen Geräten zum Einsatz.
Farbmesskamera zur Charakterisierung von Displays
02. Juni 2017 - Instrument Systems präsentiert die neu entwickelte Leuchtdichte- und Farbmesskamera LumiTop 2700. Als Kombination aus Spektralradiometer und RGB Kamera charakterisiert die LumiTop 2700 Displays in der Produktion mit sehr hoher Messgeschwindigkeit und herausragender Genauigkeit.
Advantest Europe und Nash Technologies arbeiten bei Applikationsentwicklung zusammen
23. Mai 2017 – Advantest Europe GmbH und Nash Technologies GmbH geben eine strategische Zusammenarbeit bei der Entwicklung von Lösungen für den Test von Halbleiter-Bauteilen bekannt. Der Marktanteil von Advantest im SoC-Bereich wächst deutlich und die Kunden benötigen Lösungen, um ihre Bauteile auf den führenden Testplattformen V93000 und T2000 zu prüfen.
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- Netzwerk- und Spektrumanalyse bis 1,5 THz
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