|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestStrom/Spannung-Analysatoren zur Charakterisierung von Materialien und Bauteilen03. Juni 2015 – Keysight Technologies präsentiert eine komplette Serie von Strom-/Spannungs-Analysatoren (I-V) für die Charakterisierung von Nanomaterialien und Elektronikbauteilen unterschiedlichster Art. Die neue Precision Current-Voltage Analyzer Serie zeichnet sich durch hohe Genauigkeit und Leistungsfähigkeit sowie mächtige Analysefunktionen aus. Die Serie umfasst Modelle unterschiedlicher Preis- und Leistungsklassen, darunter auch preisgünstige Einstiegsmodelle ab $5.000. 4-Port-VNA mit Frequenzbereich von 70 kHz bis 110 GHz29. Mai 2015 – Anritsu stellt mit dem VectorStar ME7838A4 einen 4-Port Breitband-VNA (Vektor-Netzwerk-Analyzer) vor, der einen differentiellen Frequenz-Sweep von 70 kHz bis 110/125 GHz bietet und stabile und schnelle Messungen für die Charakterisierung differentieller Bausteine ermöglicht. Der ME7838A4 bietet Entwicklern, die mit On-Wafer-Techniken und Signalintegrität betraut sind, damit eine höchste Leistungsfähigkeit bei der Durchführung differentieller Messungen. Analyse von Halbleiterschaltungen mittels Terahertz-Technologie26. Mai 2015 – Advantest hat eine Technologie zur Analyse von elektrischen Schaltungen auf der Basis von kurzen Terahertz-Impulsen entwickelt. Die Technologie hat 2 Hauptanwendungen - die Analyse der Übertragungscharakteristik (S-Parameter) von Bauteilen für das Sub-Terahertz-Band (100 GHz bis 1 THz) sowie die Charakterisierung und die Lokalisierung von Defekten in Chip-Schaltungen (TDT/TDR). Analyse von Batterieschäden mit hochauflösendem 3D-Computertomograph18. Mai 2015 - Das Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg (ZSW) hat Anfang des Jahres einen Dual-Source-Röntgentomographen in Betrieb genommen, mit dem das Innenleben von Batterien zerstörungsfrei und mit hoher Auflösung untersucht werden kann. Mit dem neuen Gerät hat das europaweit renommierte Batterieforschungsinstitut sein Dienstleistungsangebot erweitert. Software optimiert automatisierte Tests mit Netzwerkanalysatoren17. April 2015 - Produktionstests an Mehrtor-Messobjekten wie Frontend-Modulen für Smartphones werden immer komplexer. Die Software R&S ZNrun von Rohde & Schwarz kommt bei der Hochgeschwindigkeits-Produktion von großen Stückzahlen zum Einsatz. Messungen an Mehrtor-Messobjekten mit Netzwerkanalysatoren lassen sich mit ihr noch schneller und effizienter durchführen. Test von GaN- und SiC-Bauteilen16. April 2015 - bsw TestSystems & Consulting hat verschiedene neue Testlösungen für GaN- und SiC-Bauelemente vorgestellt. Diese Technologien werden beispielsweise in AC/DC-, DC/DC-Konvertern von Energiesystemen für LEDs, Solarzellen oder Ladegeräte für Kfz-Batterien genutzt. Um das spezifische Verhalten dieser Bauelemente genau untersuchen zu können, werden hoch genaue DC-Messungen und sehr kurze Pulse mit hohen Strömen oder Spannungen am Drain benötigt. Prüfung und Zertifizierung von Klemmleisten für nordamerikanische Markt30. März 2015 - Die CSA Group Bayern, eine Tochtergesellschaft der CSA Group, eines weltweit führenden Anbieters von Dienstleistungen in den Bereichen Normenentwicklung, Produktprüfung und -zertifizierung, ist nach ISO 17025 akkreditiert und kann ab sofort Klemmleisten für die nordamerikanischen Märkte prüfen und zertifizieren. Darüber hinaus bietet die CSA Group Bayern Prüfungen von Kundenprogrammen und Witness-Tests in herstellereigenen Prüfeinrichtungen vor Ort an. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |