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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-Test
TÜV SÜD und ESPEC kooperieren bei Batterietests20. November 2014 - TÜV SÜD Japan Ltd. ist ab sofort Partner der ESPEC Cooperation, einem der größten Hersteller und Betreiber von Umweltprüfeinrichtungen in Japan. Gemeinsam bauen ESPEC und TÜV SÜD dazu derzeit das bestehende ESPEC Batterielabor zu einem kompletten Prüfzentrum für große Batteriesysteme aus. Ziel ist es, ab 2015 das komplette Prüfspektrum für Antriebsbatterien von Elektrofahrzeugen in Japan anbieten zu können. Damit reiht sich Japan als weiterer Standort in das internationale Netzwerk von Batterielabors von TÜV SÜD ein.
Testsystem für Display-Treiber-ICs für hochauflösende LCD-Panels30. Oktober 2014 - Advantest hat mit dem neuen T6391 eine Testlösung für Display-Treiber-ICs (DDIs) der nächsten Generation vorgestellt. Damit lassen sich die embedded Funktionen der Treiber zur Steuerung hochauflösender LCD-Panels prüfen. Der neue Tester wurde speziell im Hinblick auf drei entscheidende Trends im DDI-Markt entwickelt: die steigende Pin-Zahl bei Display-Treibern, die höheren Geschwindigkeiten der Schnittstellen und die Integration vieler Funktionen - alles zusammen ermöglicht Displays mit höherer Auflösung.
Vektor-Netzwerkanalysatoren mit Frequenzbereich bis 40 GHz13. Oktober 2014 – Mit der Baureihe MS46122A erweitert Anritsu seine ShockLine-Familie von Vektornetzwerkanalysatoren (VNA). Durch die von Anritsu patentierte VNA On-a-Chip-Technologie für ShockLine VNAs, passen die kostengünstigen und voll reversierenden 2-Port-VNAs der Baureihe MS46122A in ein sehr kompaktes Paket für 1U-Rack-Gehäuse. Die Baureihe MS46122A wurde eigens für äußerst kostensensible Messanwendungen, wie sie in Fertigungs- und Entwicklsumgebungen sowie im Rahmen von Schulung und Ausbildung vorkommen, optimiert.
Inspektion von Halbleiter-Gehäusen mit Terahertz-Strahlung06. Oktober 2014 - Advantest hat mit dem TS9000 ein neues Gerät zur Messung der Dicke von Halbleiter-Gehäusen vorgestellt. Das System basiert auf der modernen Advantest Terahertz-Technologie (THz). Das neue MTA (Mold Thickness Analysis) TS9000 System erlaubt eine zerstörungsfreie Bestimmung der Dicke eines Halbleiterchip-Gehäuses. Es erfüllt die erforderlichen hohen Standards hochvolumiger Fertigung hinsichtlich Geschwindigkeit und Genauigkeit und kann durch seine innovativen Inspektionsmöglichkeiten zu einer deutlichen Verbesserung der Produktqualität beitragen.
Energiespeicher-Testsystem zur Optimierung von Batteriezellen26. September 2014 - Mit dem Energiespeicher-Testsystem für Zell-Prototypen und Zellen von Scienlab lassen sich Zellproben charakterisieren und so die jeweilige Materialzusammensetzung verbessern. Forschungseinrichtungen und Unternehmen in der Automobil- und Industriebranche können damit die Leistungs- und Energiedichte, Sicherheit, Lebensdauer sowie die Kosten eines Energiespeichers optimieren und eine höhere Reichweite von z. B. E-Fahrzeugen erzielen.
PXI-basiertes automatisches Halbleiterprüfsystem25. September 2014 – National Instruments hat die Produktreihe NI Semiconductor Test Systems (STS) vorgestellt. Es handelt sich dabei um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, die für die Prüfung von RF- und Mixed-Signal-Bauteilen kostengünstige PXI-Module von NI und anderen Herstellern nutzen. Die Systeme lassen sich in der Charakterisierung und Produktion einsetzen. So wird weniger Zeit für die Korrelation von Daten sowie zur anschließenden Markteinführung benötigt.
Preiswerter Vektornetzwerkanalysator für uni- und bidirektionale Messungen19. September 2014 - Der neue R&S ZND Vektornetzwerkanalysator von Rohde & Schwarz verfügt über zwei Messtore und ist in der Grundversion für unidirektionale Messungen von 100 kHz bis 4,5 GHz ausgelegt. Über leicht auszuführende Erweiterungen ist er flexibel aufrüstbar. So lässt sich der Frequenzbereich des Geräts auf 8,5 GHz erweitern. Auch lässt sich der Analysator für bidirektionale Messungen bis 4,5 bzw. 8,5 GHz ausstatten. Diese Funktionen können lokal freigeschaltet werden. Weitere Beiträge ...
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