|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestUntersuchung von Fotomasken-Strukturen für die 1Xnm Technologie26. November 2013 - Advantest stellt das neue E3640 MVM-SEM System (Multi Vision Metrology Scanning Electron Microscope) zur Messung von Strukturen auf Fotomasken und anderen Medien im Bereich von nur 1Xnm vor. Als Erweiterung der weit verbreiteten E3600 Serie der Advantest SEM-Systemfamilie bietet das E3640 eine deutlich höhere Messgenauigkeit und einen höheren Durchsatz. Die bislang unerreichten Messmöglichkeiten unterstützen den künftigen Umstieg auf 1Xnm Technologien in der Halbleiterproduktion. Advantest stellt neue CloudTesting Lösung auf SEMICON Europa 2013 vor08. Oktober 2013 - Advantest Europe, meldet, dass das Unternehmen der europäische Kooperationspartner von CloudTestingTM Service sein wird. Durch diese Zusammenarbeit bietet Advantest Halbleiterunternehmen Zugriff auf Testmöglichkeiten bei minimalen Investitionen und Aufwand. Dieser Service ist besonders für die Design-Verifikation, bei Fabless-Unternehmen und für Bildungseinrichtungen mit begrenzten Ressourcen interessant. Batterien mit minimalem Energieeinsatz kostengünstig testen04. Oktober 2013 - Energiespeicher wie Batterie-Zellen, -Module und -Packs müssen vor der Markteinführung umfassend charakterisiert und verifiziert werden. Scienlab hat die Energieeffizienz seiner Kompaktlösungen für den Test der Batterien deutlich verbessert. Die neuen Prüfsysteme für Energiespeicher von Scienlab arbeiten absolut energieeffizient und sind mit einem hohen Wirkungsgrad rückspeisefähig. Die Effizienz der Systeme konnte so um den Faktor 20 erhöht werden. SEMICON Europa findet künftig abwechselnd in Dresden und Grenoble statt27. September 2013 - Ab 2014 wird die europäische Halbleitermesse Semicon Europa alternierend in Dresden und Grenoble stattfinden. Das gab Denny Mc Guirk, Präsident von SEMI International offiziell bekannt. Folglich wird die Semicon Europa 2014 vom 7. bis 9. Oktober 2014 in Grenoble und 2015 wieder in Dresden stattfinden. Kompakter Batterieprüfstand für präzise Impedanzmessungen25. September 2013 - Der neue Batterieprüfstand Evaluator-B10 der FuelCon AG vereint die Funktionalitäten der Impedanz-Spektroskopie mit der Leistungsfähigkeit von Lade-/Entlade-Einheiten in einem kompakten, mobilen Prüfstands-Design. Damit können Anwender nicht nur alle Vorteile der Impedanzmessung, wie zum Beispiel Analyse elektrochemischer Prozesse, Optimierung von Materialentwicklungen oder Untersuchung von Alterungseffekten zur Charakterisierung von Batteriezellen nutzen.
MEMS Testing and Metrology Workshop auf der SEMICON Europa09. September 2013 - Im Rahmen der SEMICON Europa findet am 9. Oktober 2013 in Dresden ein Internationaler MEMS Testing and Metrology Workshop statt. Die Veranstaltung wird von MEMUNITY – die MEMS Test Community – in Zusammenarbeit mit SEMI organisiert. Das Experten-Event diskutiert aktuelle Anforderungen und Trends in der MEMS-Entwicklung, bei Messtechnik und Testverfahren.
Universelle Testplattform für Protokoll-basierte Flash-Speicher23. August 2013 - Advantest Corporation steigt mit der universellen NEO-SSD-Plattform in den Markt für den Test von fortschrittlichen PCI Express (PCIe) 3.0 NVMe SSD-Laufwerken (Solid State Drive). Das Unternehmen baut eine Familie von Testlösungen auf, die voraussichtlich ab dem vierten Quartal 2013 an Kunden ausgeliefert werden. Die konfigurierbare NEO-SSD-Plattform unterstützt verschiedene Protokolle und erfüllt die speziellen Testanforderungen von SSD-Systemen im kompletten Produktzyklus von der Entwicklungsvalidierung und Design-Verifizierung über den Zuverlässigkeitsnachweis bis zum Produktionstest. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |