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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-Test
Test von NAND Flash und NAND-basierten MCPs22. Juli 2013 - Advantest liefert das neue T5831 Testsystem jetzt an Kunden aus. Das System wurde für den Test von ICs der nächsten Generation entwickelt, die in mobilen Anwendungen wie NAND Flash mit schnellen ONFi oder Toggle Mode Schnittstellen sowie managed NAND-Bauteilen (eMMC - embedded Multi-Media Card) eingesetzt werden. Der vielseitige Tester unterstützt auch einen parallelen Test von NAND Flash und Mobile DRAM in einem Multi-Chip-Gehäuse (MCP).
Kosteneffizienter, massiv paralleler Test von PMICs und anderen SoC-Halbleitern15. Juli 2013 - Advantest steigt mit dem kostengünstigsten Testsystem auf Basis der V93000-Plattform in den Markt für System-on-Chip (SoC) Mobile Leistungsmanagement-ICs (PMIC) ein. Die neue Lösung ist kompatibel zu den weltweit installierten Advantest V93000-Systemen und erlaubt durch die hohe Flexibilität einen Multisite-Test von komplexen SoC- und SiP-Bauteilen (Single In-Line-Package) mit embedded Leistungsmanagement-Cores.
8 Gsps Signalgenerator / 8 GHz Digitizer-Modul für SoC-Test09. Juli 2013 - Advantest stellt das neue T2000 8GWGD Instrument vor, das einen 8 Gsps (Gigasamples per Second) Signalgenerator und einen 8 GHz Digitizer für den Test von SoC-Bauteilen (System-on-Chip) in Massenspeicher und Festplatten-Laufwerken (HDDs), in einem Modul kombiniert.
Portable Messeinrichtung für Transformatortests gemäß IEC 60076-1805. Juli 2013 – Caltest Instruments stellt unter der Bezeichnung SFRA45 ein Handheld-Instrument des englischen Herstellers Newtons4th (N4L) vor, das speziell für die Prüfung des Frequenzgangs von Leistungstransformatoren im Feld gemäß der Norm IEC 60076-18 entwickelt wurde. Damit lassen sich beispielsweise Probleme bei Isolierung oder Kühlung erkennen.
Advantest stellt neue Test Floor Intelligence Software vor04. Juli 2013 - Advantest stellt seine neueste Test Floor Intelligence Software TFI 2.0 vor, mit der sich die Gesamtanlageneffizienz (OEE) beim Produktionstest verbessern lässt. Dies wird durch ein effizientes Mining und die Analyse großer Datenmengen erreicht, die während des Halbleitertests generiert werden. TFI ist die Lösung der zweiten Generation von Advantest und führt eine Echtzeit- Daten-Erfassung, -Steuerung und ein Internet-basiertes Reporting aus. Quasys AG vertreibt Dage Bondtester in der Schweiz02. Juli 2013 - Seit 1. Mai 2013 agiert die Quasys AG mit Sitz in Steinhausen als neuer Vertriebspartner der Dage Deutschland GmbH für die Produkte Bondtester für die Prüfung der Wire Bond Verbindungen und den neuen Multifuktionstestern der 4000Plus Serie für vielerlei Kraftmessaufgaben an Bauteilen, mechanischen Komponenten und der Leiterplatte direkt.
Advantest ist laut VLSIresearch erneut führend bei Kundenzufriedenheit01. Juli 2013 - Advantest gehört laut einer Kundenbefragung durch VLSIresearch erneut zu den weltweit 10 BEST Suppliers in 2013. Damit wurde Advantest bereits zum 25. Mal in Folge von den weltweit führenden Halbleiter-Herstellern - IDMs, OSATs und Fabless-Unternehmen – in der jährlichen Untersuchung des Marktforschungsunternehmens VLSIresearch Inc (Santa Clara, Kalifornien) in eine Top-Position eingestuft. Weitere Beiträge ...
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