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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestValidierung komplexer HF- und Millimeterwellen-Designs07. September 2022 – Keysight Technologie hat seine Zusammenarbeit mit Synopsys ausgeweitet und integriert PathWave RFIC Design (GoldenGate) in die Design-Umgebung Synopsys Custom Compiler und die Schaltungssimulationslösungen Synopsys PrimeSim. Dadurch können Entwickler komplexe Hochfrequenz- und Millimeterwellen-Designanforderungen für 5G/6G System-on-Chip (SoC)- und Subsystem-Designs in der Synopsys Custom Design Familie validieren. Erfassung des Stromverlaufs in Brennstoffzellen06. September 2022 - Die Messmodule „IntelliProbe U02“ von SMART TESTSOLUTIONS ermöglichen eine zeitsynchrone Erfassung des Stromverlaufs und der Einzelzellspannungen in einem Brennstoffzellenstapel. Der Stuttgarter Spezialist für Technologien zur Zellspannungsüberwachung an Brennstoffzellen präsentiert die neuen Module Anfang Oktober auf der Branchenmesse f-cell. Die IntelliProbe-U02-Module unterscheiden sich optisch nicht von den restlichen CVM-Modulen der Produktfamilie für die Überwachung der Einzelzellspannungen an Brennstoffzellen, die weltweit bei namhaften Fahrzeugherstellern und Automobilzulieferern im Einsatz sind. Single-Sweep VNA-Spektrum-Analyzer von 70 kHz bis 220 GHz30. August 2022 – Anritsu Company erweitert sein Angebot an VectorStar-Vektor-Netzwerk-Analyzer (VNA) um umfassende Spektrumanalyse-Funktionen und stellt nun den branchenweit ersten Single-Sweep VNA-Spektrum-Analyzer vor, der 70 kHz bis 220 GHz abdeckt. Wenn die Spektrum-Analyzer-Option installiert ist, kann der VectorStar VNA- und spektrumbasierte Messungen mit einer einzigen Verbindung durchführen, um eine effizientere und genauere Testumgebung zu schaffen, mit der sich aktive und passive Bauelemente während des Designs, der Fehlerbehebung und Charakterisierung verifizieren lassen. Testlösung für Komponentencharakterisierung auf Waferebene27. Juli 2022 - Rohde & Schwarz bietet jetzt eine Testlösung für die vollständige Charakterisierung der HF-Performance von Prüflingen auf Waferebene an. Diese Lösung kombiniert den leistungsstarken R&S ZNA Vektornetzwerkanalysator von Rohde & Schwarz mit den branchenführenden Probe-Stationen von FormFactor. Sie ermöglicht Halbleiterherstellern die zuverlässige und reproduzierbare On-Wafer-Charakterisierung von Bauteilen während der Entwicklung, der Produktqualifizierung und in der Produktion. Batterieanalyse mittels elektrochemischer Impedanzspektroskopie13. Juli 2022 – Der B+K Precision BA8100 ist ein EIS-basierter Batterieanalysator (EIS = elektrochemische Impedanzspektroskopie), der eine nicht-intrusive Technik zur Charakterisierung der Impedanz einer Batterie nutzt. Bei dieser Methode wird die Batterie mit einem Wechselstromsignal mit kleiner Amplitude angeregt. Das Gerät kann die interne Batterieimpedanz bei einer gewünschten Frequenz bis 10 kHz sowie Spannung bis 80 V, Strom bis 3 A, Phase, Kapazität, Induktivität und Qualitätsfaktor messen. Dadurch dass der Batterie-Analysator BA8100 eine galvanostatische EIS an einzelnen Zellen oder Strings durchführt, die 80 V nicht überschreitet, ist er ideal für die Charakterisierung und Prüfung von Energiespeicher- und Energieumwandlungssysteme geeignet. Advantest übernimmt CREA13. Juni 2022 - Advantest hat die Übernahme des italienischen Unternehmens CREA - Collaudi Elettronici Automatizzati S.r.l. ("CREA") bekanntgegeben. CREA ist ein Anbieter von Testsystemen für Leistungshalbleiter. Seine Produkte werden zum Testen aller Arten von Leistungs-ICs verwendet und von globalen Halbleiterunternehmen weltweit eingesetzt. CREA, mit Hauptsitz in Ciriè in der Nähe von Turin, Italien, wird eine hundertprozentige Tochtergesellschaft von Advantest Europe GmbH, Advantest’s europäischer Tochtergesellschaft werden. Der Abschluss der Transaktion ist an das behördliche Genehmigungsverfahren gebunden. Flexibles DUT-Interface ermöglicht höhere Paralleltestkapazität01. Juni 2022 - Advantest hat das DUT Scale Duo Interface für die V93000 EXA Scale SoC Testsysteme vorgestellt, das den höchsten Grad an Parallelität beim Testen innovativer Halbleiter ermöglicht. Das Interface vergrößert den nutzbaren Platz auf DUT Boards und Probe Cards um 50 Prozent und ermöglicht bei Wafer-Probe- und Endtest-Setups dreifache Bauteilhöhen. Weitere Beiträge ...
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