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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestKombination von Kennlinienschreiber und Parameteranalysator22. Oktober 2012 - Keithley Instruments stellt sieben Messtechnik-, Software- und Testadapterkonfigurationen zur Charakterisierung von Leistungsbauteilen mit bis zu 3.000 V und 100 A mittels Parameter-Kurvenaufzeichnung vor. Diese sehr kostengünstigen Lösungen wurden speziell für die Charakterisierung der immer häufiger verwendeten Leistungshalbleiter optimiert, wie von Bauteilen auf der Basis der Siliciumcarbid (SiC)-und Galliumnitrid (GaN)-Technologie. Die Systeme eignen sich für die meisten Leistungsbauteile, Entwicklungsanwendungen und die Charakterisierungs- und Testanforderungen in der Forschung und Zuverlässigkeitsuntersuchung. Advantest gründet neue Tochtergesellschaft für CloudTesting Service10. Oktober 2012 – Advantest hat eine neue Tochtergesellschaft für den Vertrieb seines CloudTesting Service gegründet hat, die Testlösungen auf der Basis von IT- und Cloud Computing Technologien anbietet. Der neue CloudTesting Service von Advantest kombiniert leistungsfähige Testtechnologien mit Cloud Computing und stellt damit ein neues Konzept für den Halbleiter-Test dar: On-Demand-Testlösungen, die genau auf die Kundenanforderungen zugeschnitten sind. Kostengünstige LCR-Meter mit hoher Grundgenauigkeit21. September 2012 - ASM Automation Sensorik Messtechnik stellt neue LCR-Meter des Partners HIOKI für den Einsatz in Produktionslinien oder in der Herstellung von LCR-Bauteilen, Transformatoren und Spulen vor. Die neu aufgelegten Gerätemodelle HIOKI 3523(IM), 3533(IM) bzw. 3533-01(IM) zeichnen sich durch eine hohe Grundgenauigkeit von +/- 0,05% und einen günstigen Preis aus. Leistungsfähige Chip-Handler ermöglichen maximale Tester-Auslastung13. September 2012 - Durch den Einsatz hochparalleler Baustein-Handling-Systeme können Testeinrichtungen maximal ausgelastet werden. Baustein-Handler kontaktieren im Rahmen des Testprozesses die einzelnen Bausteine auf dem Prüfadapter. Zusätzlich übernimmt er wichtige Aufgaben wie das thermische Konditionieren der Bausteine, die elektrostatische Produktsicherheit während des Testablaufs und die anschließende Sortierung in die kundenspezifisch festgelegten Testkategorien. ADVANTEST bietet neben dem erforderlichen Tester auch den optimal abgestimmten Handler zur Vervollständigung einer Testzelle. Fehlerorte in Leistungstransformatoren schnell und einfach lokalisieren03. September 2012 - Mit dem PDL 650 von OMICRON können Fehlerorte in der Isolation von Leistungstransformatoren lokalisiert werden. Diese Fehlerorte lassen sich über Teilentladungsmessungen ermitteln, da elektrische und akustische Impulse zeitgleich auftreten. OMICRON hat nun die PDL Software um zahlreiche Funktionen und Verbesserungen erweitert. Festoxid-Brennstoffzellen reproduzierbar testen01. August 2012 - FuelCon stellt ein voll-keramisches Zell-Housing vor, das ein einfaches Testen von Festoxid-Brennstoffzellen (SOFC) MEAs (Multimembran Einheit) ermöglicht. Die reproduzierbare Charakterisierung der Leistungsdichte von SOFC Einzelzellen (MEA´s) ist für viele Anwendungsfälle bedeutsam. Die Zell-Entwicklung erfordert die genaue Zuordnung verschiedener Werkstoffparameter zum elektrochemischen Verhalten, aber auch das „Benchmarken“ verschiedener Herstellungstechnologien und Anbieter benötigt einfache und reproduzierbare Testvorrichtungen. Hochgenaue Messung von Shunt-Widerständen19. Juli 2012 - Das neue Widerstands-Messgerät 3543 (RM) von HIOKI ist speziell für die schnelle und hochgenaue Messung von niederohmigen Shunt-Widerständen konzipiert. Shunt-Widerstände werden häufig in der Entwicklung von Elektro- und Hybrid-Automobilen eingesetzt, um die durch den Shunt geleiteten Ströme anhand ihres Spannungsabfalls zu messen. Solche Messungen erfolgen beispielsweise vor der Auslieferung eines Fahrzeugs zur Qualitätskontrolle. Weitere Beiträge ...
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