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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestTeststand für parallele Mehrfachprüfung von Brennstoffzellen10. Dezember 2010 - Die MAGNUM Fuel Cell AG hat ein neuartiges Teststand-Konzept für die Prüfung von Brennstoffzellen entwickelt. Durch den modularen Aufbau kann ein einziger Teststand für die parallele Mehrfachprüfung von bis zu sechs Einzelzellen eingesetzt werden. Damit wird beim Anwender die Testkapazität drastisch erhöht und die Investition pro Messplatz um über 50% gesenkt. Advantest erweitert SOC-Testplattform T200008. Dezember 2010 - Advantest hat drei neue Module und die Infrastruktur-Erweiterung Enhanced Performance Package (EPP) für die SOC-Testplattform T2000 vorgestellt. Das EP Package und die neuen Module unterstützen eine Funktionstest-Abstraktion (FTA), so dass sich auf dem Testsystem Programme zur IC-Design-Verifizierung auf Systemebene ausführen lassen. Instrument Systems liefert tausendstes Array Spektrometer aus08. Dezember 2010 - Instrument Systems meldet die Auslieferung des tausendsten Array Spektrometers der Baureihe CAS 140CT. Zu den Haupteinsatzgebieten gehören die LED-Messtechnik, die Display-Messtechnik sowie die allgemeinen Spektralanalyse eingesetzt. Mit hochwertigen Detektoren sowie optischen und elektronischen Komponenten ausgestattet, decken die sieben verfügbaren Modelle des CAS 140CT einen Spektralbereich von 200 nm bis 2160 nm ab. Testcenter für Li-Ionen-Batterien eröffnet06. Dezember 2010 - Akasol Engineering, ein Anbieter von Speicher- und Antriebssystemen für Elektrofahrzeuge, hat im November sein neues Testcenter für Li-Ionen-Batterien in Betrieb genommen. Am Stammsitz in Darmstadt steht den Entwicklern nun eine der modernsten Testumgebungen in Europa für Analyse- und Prüfverfahren für Batterietechnologie zur Verfügung. CD-SEM-Messtechnik-Tool für Fotomasken02. Dezember 2010 - Advantest stellt ein neues SEM-basiertes CD-Messsystem (Critical Dimension) für Fotomasken der nächsten Generation und Patterned Media vor. Das E3630 ist voll kompatibel zum bestehenden CD-SEM-Messsystem E3610/E3620 von Advantest, bietet aber eine um 30 % bessere Wiederholbarkeit bei der Linienbreite. Testlösung für Leistungshalbleiter23. November 2010 - Advantest Europe GmbH präsentiert zwei neue Testlösungen für Leistungsbauteile basierend auf dem SoC-Testsystem T2000. Die neue IPS-Testlösung (Integrated Power Device Solution) besteht aus einem Hochleistungsmodul, einem Matrixmodul und einem Mixed-Signal-Hochspannungsmodul, die zusammen eine umfassende, konfigurierbare Lösung für den Test von multifunktionellen Leistungs-ICs für Automotive- und Konsumelektronik-Komponenten bilden.
Testlösung für schnelle Schnittstellen in Halbleiter-Bauteilen18. November 2010 - Advantest Europe GmbH stellt für sein führendes SoC-Testsystem T2000 eine neue Lösung zum Test schneller Schnittstellen vor. Die neue Testlösung basiert auf dem von Agilent Technologies entwickelten N6010A Serial Port Parametric Testmodul und ermöglicht Messungen mit Geschwindigkeiten bis zu 12,5Gbps. Weitere Beiträge ...
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