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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestNahfeldanalyse von schmalbandigen optischen Emittern02. Mai 2022 – Instrument Systems präsentierte auf der LASER WoP 2022 seine neueste Infrarot-Kamera VTC 4000 zur Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern wie z.B. VCSEL oder Lasern. Industrieübliche VCSEL emittieren in mehr als einem Polarisationszustand mit jeweils unterschiedlichen Polarisationswinkeln und erschweren so ihre fehlerfreie Vermessung. Dank neuartigem One-Shot-Verfahren misst die VTC 4000 simultan die räumliche Polarisation einzelner Emitter eines Arrays und liefert notwendige Informationen, um die Polarisationsabhängigkeit des Messaufbaus zu reduzieren. Hochleistungs-Impedanzmessungen bis 10 MHz16. März 2022 – Rohde & Schwarz erweitert mit einer komplett neuen Familie von Hochleistungs-LCR-Metern den von seinen Messgeräten abgedeckten Frequenzbereich für Impedanzmessungen deutlich. Damit lassen sich nun auch Wechselstrom-Bauelemente mit Betriebsfrequenzen von 4 Hz bis 10 MHz vermessen. Die R&S LCX LCR-Meter sind zur Durchführung aller gängigen Impedanzmessungen sowie spezialisierter Messungen für ausgewählte Bauelementtypen in der Lage. Testsysteme für Laserdioden28. Februar 2022 - Instrument Systems präsentiert auf der LASER WoP 2022 sein umfangreiches Testportfolio für IR-Emitter und VCSEL. Neue Produktentwicklungen im Bereich der Spektralradiometer der CAS-Serie und der VTC Near-/Far-Field-Kameras bedienen den immens gewachsenen Markt der Laserdioden-Produktion für den kurzwelligen Infrarot-Bereich von 900 bis 1700 nm. Mit dem passenden LIV-Test-Equipment - zusätzlich bestehend aus Ulbricht-Kugeln, Photodioden, Source-Measure-Units (SMUs) und Temperaturreglern - können Laserdioden vollumfänglich optisch charakterisiert werden. Parametrisches Testsystem für Wafer-Tests20. Januar 2022 – Keysight Technologies hat das parallele parametrische Testsystem Keysight P9002A vorgestellt. Das Testsystem bietet einen kosteneffizienten Wafertest mit hohem Durchsatz sowie eine flexible Optionsstruktur für bis zu 100 Kanäle paralleler Testressourcen, einschließlich der für parametrische Tests an jeder Testressource erforderlichen Testfunktionen. Ein neuer Adapter für Tastkopfkarten und die SPECS-Software unterstützen zudem einen reibungslosen Produktionsanlauf. SoC-Tester unterstützt softwarebasierte Funktions- und HSIO SCAN-Tests03. Dezember 2021 - Advantest stellt mit der Link Scale Produktreihe neue digitale Karten für die V93000 Plattform vor. Diese ermöglichen softwarebasierte Funktionstests und USB / PCI Express (PCIe) SCAN-Tests bei Halbleitern der nächsten Generation. Die Plattform wird um systemähnliche Test-Funktionen erweitert und erlaubt es Schnittstellen beim Testen im vollständigen Protokollmodus zu betreiben. Probe-Card-Technologie für PIC-Wafer-Level-Tests01. Dezember 2021 - Final-Tests sind ein wichtiger Bestandteil der Supply Chain von elektronischen Bauteilen. Für integrierte Schaltkreise (ICs) sind diese fest etabliert – für integrierte photonische Schaltkreise (PICs) ist das Test-Eco-System noch im Aufbau. Einen essenziellen Baustein für neuartige PIC-Wafer-Level-Tests liefert Jenoptik mit der opto-elektronischen UFO Probe Card. RoodMicrotec setzt diese bereits ein und profitiert von einer schnellen und unkomplizierten Integration und hoher Flexibilität. Advantest erweitert Produktspektrum durch Übernahme von R&D Altanova23. November 2021 - Advantest Corporation hat das US-amerikanische Unternehmen R&D Altanova, Inc. übernommen. R&D Altanova ist ein Anbieter von Test Interface Boards, Substraten und Verbindungstechnologien für High-End-Anwendungen. Das Unternehmen bietet Simulation, Design, Layout, Herstellung und Montage von Test Interface Boards an, die in Testgeräten bei der Prüfung von neuesten ICs eingesetzt werden. Weitere Beiträge ...
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