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Bauteil-/Halbleiter-Test

Halbleiter-Testsoftware für Wafer-Produktionstest mit hohem Durchsatz

30. September 2011 - Keithley Instruments stellt einen Upgrade für seine weit verbreitete Halbleiter-Testsoftware Keithley Test Environment (KTE) vor. Die KTE-Version 5.3 wurde speziell für den Einsatz mit dem Parameter-Testsystem S530 von Keithley entwickelt, der derzeit schnellsten und kostengünstigsten Prozessüberwachungs-Lösung des Unternehmens.

KTE ist eine leistungsfähige Softwareplattform zur Testentwicklung und -ausführung, die in Verbindung mit den Parameter-Testsystemen der vorherigen Generation von Keithley in Hunderten von Halbleiter-Fabs weltweit im Einsatz ist. Jetzt kann diese bewährte Softwareplattform auch mit den S530 Testsystemen von Keithley genutzt werden, so dass nun eine flexible Prüfplanentwicklung und eine sehr schnelle Testausführung auch für anspruchsvollste Fertigungsumgebungen möglich ist. Die Anwender von bestehenden Parametertestern der Serien S400 und S600 von Keithley profitieren besonders von der KTE-Version 5.3 auf dem S530, da vorhandene Messroutinen einfach auf das S530 portiert werden können und die gleichen Prüfpläne von den bestehenden Testern und den neuen S530 Systemen genutzt werden können.

Durch die Erweiterung der KTE-Testentwicklungs- und Ausführungsumgebung auf die S530 Systeme stehen die über drei Jahrzehnte gesammelten Erfahrungen von Keithley in der Programmentwicklung für Parametertests nun auch auf der derzeit schnellsten und modernsten Systemhardware im Markt zur Verfügung. Die S530 Messtechnik bietet die heute für parametrische Testanwendungen, wie zum Beispiel zur Prozessüberwachung, erforderliche hohe Geschwindigkeit und weite Messbereiche.

Kunden, die bereits eine frühere Version von KTE nutzen, können mit KTE V5.3 die Integration ihrer S530 Testsysteme in ihr Prüffeld beschleunigen und vereinfachen:

Mit allen automatischen Parametertestern von Keithley können die gleichen Testvorschriften und Prüfpläne genutzt werden, was nicht nur die Lernkurve für Testingenieure und das Bedienpersonal verkürzt, die mit mehreren Systemen arbeiten, sondern auch einen problemloseren Migrationspfad gewährleistet. Dadurch sind bestehende Investitionen in die Testentwicklung der Fab geschützt, wenn im Prüffeld neue schnellere Systeme hinzugefügt oder ältere ersetzt werden.

Die Anwender können weiterhin mit den vertrauten Anwenderbibliotheken arbeiten, die sie über die Jahre für die bisherigen Systeme von Keithley entwickelt haben. Die Bibliotheken erfordern für den Einsatz mit dem S530 nur eine neue Kompilation und ein Rebuilt. Normalerweise ist nur ein minimales Debugging notwendig.

KTE V5.3 vereinfacht die Erstellung von neuem UAP-Source-Code (User Access Point) für bedingte Testsequenzen und eine individuelle Anpassung des Testablaufs beim S530 System. Für frühere Keithley-Systeme entwickelter UAP-Quellcode ist mit minimalen Anpassungen auch auf S530 Systemen verwendbar.

Die Tools innerhalb von KTE bieten eine identische Funktionalität für alle Parameter-Testplattformen von Keithley.

KTE für das S530 arbeitet auf einem standardmäßigen Industrie-PC mit Linux-Betriebssystem, um eine langfristige Stabilität und einfache Wartung sicherzustellen. Die Software wurde speziell im Hinblick auf Geschwindigkeit und eine hohe Zuverlässigkeit für Produktionstestumgebungen mit hohem Durchsatz optimiert. S530 Systeme mit KTE V5.3 ermöglichen alle notwendigen DC I-V and C-V -Messungen für die Prozessüberwachung, Prozesszuverlässigkeitsüberwachung und die Bauteilcharakterisierung. Die S530 Systeme sind für den Parametertest in der Produktion optimiert, wo eine große Produktvielfalt beherrscht werden muss, und wo es zudem auf eine große Anwendungsflexibilität und schnelle Testplanentwicklung ankommt.

www.keithley.com


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