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News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Advantest stellt neues DDR3-Speichertestsystem vor

3. Juni 2009 - Advantest Corporation stellt eine erweiterte Konfiguration seines neuen schnellen Speichertestsystems T5503 vor, das mit bis zu 256 DDR3-Bauteilen die derzeit höchste verfügbare parallele Testkapazität bietet. Das Testsystem mit der erweiterten Konfiguration ist unter der Produktbezeichnung T5503 8448 Channel Test Head ab sofort erhältlich.

Durch die steigende Nachfrage nach sehr schnellen Speichern mit geringem Stromverbrauch besonders bei Anwendungen mit hohem Video-, Audio- und Online-Content ist in absehbarer Zeit ein Umstieg von DDR2-SDRAM auf DDR3-SDRAM notwendig. Die höhere Leistung von DDR3 Modulen in Verbindung mit dem geringeren Stromverbrauch verspricht eine deutliche Leistungssteigerung von Geräten wie PCs, Notebooks und Servern, aber auch bei fortschrittlichen Konsumgütern wie Spielkonsolen und HDTV.

Durch diesem Umstieg auf DDR3-SDRAMs benötigen die Bauteilhersteller schnellere und noch genauere Testsysteme. Das Testsystem T5503 mit 8448 Channel Test Head von Advantest adressiert genau diese Forderungen und gewährleistet bei überlegenem Durchsatz niedrigste Testkosten in der Fertigung.

Mit der neuen, erweiterten Konfiguration des T5503 stärkt Advantest seine führende Marktposition im Bereich der Speichertestlösungen. Dieses System bietet eine sehr hohe parallele Testkapazität von 256 DUTs. In Kombination mit dem Handler M6242 von Advantest ergibt das System T5503 eine DDR3-Testzelle, die sowohl höchste Performance, hohe Fertigungsausbeute, sowie niedrigste Kosten beim Test großer Stückzahlen gewährleistet.

Mit einer für das erweiterte T5503 System verfügbaren optionalen Pinkarte lässt sich eine parallele Testkapazität von 256 DUTs auch bei Stacked High-Speed DRAMs gewährleisten

www.advantest.de



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