PXI-Plattform für Test und Charakterisierung von Halbleitern

17. Oktober 2011 – National Instruments hat die Funktionen der PXI-Plattform für die Halbleitercharakterisierung und Produktionsprüfung dank neuer PPMU-Module (per Pin Parametric Measurement Unit) und SMU-Module (Source Measure Unit) erweitert. Das Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Modul NI PXIe-6556 mit 200 MHz und PPMU-Funktionalität sowie die SMUs NI PXIe-4140 und NI PXIe-4141 mit vier Kanälen reduzieren Anschaffungskosten, verringern Prüfzeiten und erhöhen die Flexibilität bei Mixed-Signal-Tests für zahlreiche Prüflinge.

Das Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Modul NI PXIe-6556 unterstützt Anwender dabei, einen digitalen Signalverlauf mit bis zu 200 MHz zu erzeugen und zu erfassen oder parametrische DC-Messungen mit einer Genauigkeit von einem Prozent am selben Pin durchzuführen. Dadurch wird die Verkabelung erleichtert und die Dichte des Testgeräts erhöht. Außerdem verringern sich die Prüfzeiten. Des Weiteren lässt sich Zeitversatz aufgrund unterschiedlicher Kabel- und Leiterbahnlängen zum Prüfling dank der integrierten Funktion für die Timing-Kalibrierung fast gänzlich vermeiden. Diese Funktion passt das Timing für die Unterschiede automatisch an. Das Modul NI PXIe-6556 bietet die Möglichkeit, eine andere SMU von NI einzubinden und so eine höhere Genauigkeit zu erzielen. Anwender können zudem Parametermessungen auf Grundlage von Hard- oder Softwaretriggern auslösen.

Die SMU-Module NI PXIe-4140 und PXIe-4141 verfügen über vier SMU-Kanäle pro PXI-Express-Steckplatz und bis zu 68 SMU-Kanäle pro PXI-Chassis bei 4 HE, so dass sich der Test von Geräten mit hoher Pinanzahl einfacher gestaltet. Dank Abtastraten von bis zu 600 kS/s lassen sich Messzeiten stark reduzieren oder wichtiges Transientenverhalten des Geräts erfassen. Darüber hinaus verfügt das Modul NI PXIe-4141 über die so genannte SourceAdapt-Technologie, mit der Anwender die Ausgabereaktion der SMU auf beliebige Lasten benutzerdefiniert abstimmen können, um ein Maximum an Stabilität und kurze Transientenzeiten zu erzielen. Dies ist mit herkömmlichen SMU-Technologien nicht möglich.

In Verbindung mit der Systemdesignsoftware NI LabVIEW stellen die neuen PPMU- und SMU-Module eine Ergänzung des modularen, softwaredefinierten Ansatzes bei Halbleitertests dar, weil sie die Qualität erhöhen, den Kostenaufwand reduzieren und die Zeit für Tests in den Phasen Validierung, Charakterisierung und Produktion verringern. LabVIEW kombiniert die Flexibilität einer Programmiersprache mit der Leistungsfähigkeit eines erweiterten Entwicklungswerkzeugs, damit Anwender einzigartige, benutzerspezifische Anforderungen erfüllen können.

www.ni.com/lp/semiconductor