Kostengünstiger Test von integrierten Mikrocontrollern und Smart Card ICs

16. November 2012 - Advantest stellt mit der neuen T2000 IMS Testlösung ein System vor, mit dem sich Mikrocontroller mit integrierten analogen Schaltungen und embedded Flash-Speichern sehr kostengünstig und massiv-parallel testen lassen. Advantest hat die neue integrierte und massiv parallele Testlösung für gleichzeitigen Test von bis zu 256 hochintegrierten Bauteilen entwickelt, wobei ein hoher Durchsatz und kurze Testzeiten mit einer parallelen Effizienz von mehr als 99 Prozent erreicht werden.

Die universelle Pin-Architektur des Testers kann intern unterschiedlichste Ressourcen über 208 Kanäle verschalten, was eine optimale Flexibilität gewährleistet.

"Mit den massiv-parallelen Testmöglichkeiten unseres sehr effizienten neuen T2000 IMS Systems sind wir ideal positioniert, um unseren Marktanteil im kostensensitiven MCU (Mikrocontroller) und Smart Card-IC-Bereich weiter auszubauen", sagt Dr. Toshiyuki Okayasu, Executive Officer und Executive Vice President der SOC Test Business Group von Advantest Corporation. "Der Vorteil liegt in der universellen Pin-Architektur von Advantest. Andere ATE-Unternehmen benötigen mehrere Module und sehr komplexe Performance Boards für das Management dieser vielen Module, um die gleichen Aufgaben wie mit unserem monolithischen IMS-Modul auszuführen zu können."

Durch die Vereinfachung des Designs der Performance Boards kann Advantest mit diesem System nicht nur die Testkosten senken, sondern auch die laufenden Fertigungskosten in den Fertigungswerken reduzieren, weil dank der universellen Pin-Architektur die Performance Boards einfacher zu warten sind. Dieser Aspekt ist besonders für Produktionsstandorte in Übersee wichtig.

Advantest zeigt das neue Testsystem auf der SEMICON Japan (Stand #8C-901, Halle 8), die vom 5.-7. Dezember auf dem Makuhari Messegelände in Chiba, Japan stattfindet.