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News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Kosteneffizienter, massiv paralleler Test von PMICs und anderen SoC-Halbleitern

15. Juli 2013 - Advantest steigt mit dem kostengünstigsten Testsystem auf Basis der V93000-Plattform in den Markt für System-on-Chip (SoC) Mobile Leistungsmanagement-ICs (PMIC) ein. Die neue Lösung ist kompatibel zu den weltweit installierten Advantest V93000-Systemen und erlaubt durch die hohe Flexibilität einen Multisite-Test von komplexen SoC- und SiP-Bauteilen (Single In-Line-Package) mit embedded Leistungsmanagement-Cores.

 

Testsysteme für Mobile PMIC-Bauteile werden benötigt, um eine große Anzahl komplexer Tests, d.h. bis zu 2.000 Tests zur Charakterisierung, 500 Tests zur Design-Verifizierung und weitere 300 Tests in der Produktion durchzuführen. Die Tester müssen zudem eine hohe Flexibilität für künftige SoC-Integrationstrends aufweisen, da Highend-Digitalschaltungen mit Analog- und Leistungsmanagement-Funktionen auf einem Chip kombiniert werden.

Die neue V93000 Mobile PMIC-Lösung von Advantest verfügt über eine skalierbare, kostengünstige Infrastruktur, die hochintegrierte Module für massiv-parallele Tests nutzt. Um eine maximale Flexibilität und eine sehr wirtschaftliche Lösung zu erreichen, ist der Tester mit der neuen hochintegrierten Bauteilstromversorgung DPS128 ausgestattet. Diese enthält 128 Spannungs-/Strom-Kanäle (VI) pro Modul, die eine präzise Einspeisung und Messung sowohl von Strom als auch Spannung erlauben. Die Lösung nutzt außerdem die universelle Pin-Architektur der Pin Scale 1600 Digitalmodule von Advantest. Das Instrument kombiniert eine schnelle digitale Performance mit sehr genauen DC-Quellen- und Messmöglichkeiten, so dass es ideal für den Test von Mobile PMIC geeignet ist. Die per Pin TMU (Time Measurement Unit) erlaubt eine effiziente Messung der hohen Schaltfrequenzen, Tastverhältnisse und kurzen Anstiegs-/Abfallzeiten der heutigen fortschrittlichen Leistungsmanagement-Bauteile. Die Konfiguration ist flexibel und erweiterbar, um auch künftige Testanforderungen erfüllen zu können.

Die hochintegrierte Testlösung von Advantest wurde speziell im Hinblick auf die neusten Innovationen entwickelt, die eine Verlängerung der Batterielebensdauer bei portabler Konsumelektronik ermöglichen. Hierzu gehören beispielsweise mehrere Versorgungsspannungen (MSV - Multi-Supply Voltages). Diese MSVs ermöglichen eine Reduzierung des Stromverbrauchs in verschiedenen Bereichen mit separater Energieverteilung und PSO (Power-Supply Shut off), mit dem sich einzelne Versorgungsbereiche im Standby-Betrieb weiterbetreiben lassen.

"Unsere neue V93000 Mobile PMIC-Lösung bietet unseren Kunden eine überlegene Leistungsfähigkeit, wirtschaftliche Testkosten und eine kürzere Time-to-Market", sagt Hans-Juergen Wagner, Senior Vice President, SoC Business Group von Advantest Corporation. "Auf Grund der Innovationen bei PMICs werden die Bauteile immer komplexer. Wir erwarten daher, dass das V93000 zur Standardlösung für den PMIC-Test wird."

Die V93000 Mobile PMIC-Lösung von Advantest soll ab diesem Jahr ausgeliefert werden.

www.advantest.de/



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