News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Hochgeschwindigkeits-I/O Testmodule für PAM4

04. Juli 2019 – Advantest hat mit MultiLane Module entwickelt, welche die Funktionalität der V93000-Plattform für den kostengünstigen Test von digitalen Hochgeschwindigkeitsschnittstellen der nächsten Generation erweitern. Die MultiLane Instrumente bieten Testdatenraten von bis zu 112Gbps in PAM4 und 56Gbps in NRZ mit Scope-Analysefunktionen bei 50GHz Bandbreite.

Die beiden erfahrenen Testgerätehersteller haben in enger Zusammenarbeit eine voll integrierte Lösung entwickelt, welche die Hochfrequenzkanäle sehr nahe am Prüfling (DUT) platziert und die Signalintegrität und Testgenauigkeit deutlich erhöht.

Die Unternehmen haben ihr Know-how kombiniert, um innovative Lösungen für den Test von Bauteilen der nächsten Interface-Generation anzubieten. Anwendungen findet man in Rechenzentren und Bereichen der künstlichen Intelligenz (KI). Die neuen Instrumente werden von MultiLane verkauft und betreut. Sie erweitern die bisherigen digitalen und analogen Frequenzen der V93000 Plattform in Bereiche, die für die Entwicklung neuester Kommunikationsinfrastrukturen zwingend erforderlich sind. Die Zusammenarbeit erweitert die Kapazität von gängigen Testlösungen im ATE Bereich und ermöglicht damit die Kombination von ATE DUT-Boards mit MultiLane Hochfrequenzinstrumenten in Laborumgebung sowie bei Mess- und Charakterisierungsaufgaben auf automatischen Textsystemen.

Eine integrierte Softwareumgebung ermöglicht die flexible, interaktive Anwendung im Laborbereich und erlaubt gleichzeitig die effiziente Programmierung und Handhabung der Geräte für die Serienfertigung.

www.multilaneinc.com/

www.advantest.com/

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