News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Parametrisches Testsystem für Wide Band Gap Bauteile

03. November 2020 - Tektronix hat das neue parametrische Testsystem „Keithley S530 Series Parametric Test System“ mit neuer KTE 7 Software-Unterstützung und weiteren Verbesserungen vorgestellt. Die neue S530-Plattform bietet eine Reihe von Verbesserungen gegenüber dem Vorgängersystem, wie einen höheren Durchsatz und Tests mit bis zu 1100 V an jedem Pin.

Neue Halbleiterprodukte, die auf Wide Bandgap-Technologien (WBG) wie GaN und SiC basieren, versprechen schnellere Schaltgeschwindigkeiten, breitere Temperaturbereiche, bessere Leistungseffizienz und weitere Vorteile. Um den Testanforderungen für diese Produkte gerecht zu werden, bietet die KTE 7-basierte S530-Plattform eine Messleistung auf Laborniveau mit minimaler Einrichtungs- und Testzeit. Schnelle, vollständig flexible Konfigurationen bis zu 1100 V sind möglich, falls neue Anwendungen hinzukommen und sich die Anforderungen ändern. Dies ermöglicht es Chipherstellern, kostengünstig und effizient in wachstumsstarke Leistungs- und WBG-Bauelement-Märkte (einschließlich des Automobilmarktes) zu expandieren, das mit minimaler Test-/Einrichtungszeit, auf einem einzigen System und mit minimalen Investitionen.

"Analog- und Mixed-Signal-Halbleiterhersteller verzeichnen weiterhin eine starke Nachfrage durch neue Endanwendungen in den Bereichen 5G-Kommunikation, Automobil, IoT, Medizin, grüne Energie und anderen Märkten", sagt Chris Bohn, Vice President und General Manager bei Keithley/Tektronix. "Diese bedeutsame Überarbeitung der Testplattform hilft diesen Kunden, neue Produkte schneller und kostengünstiger auf den Markt zu bringen und gibt ihnen gleichzeitig die Flexibilität, sich in Zukunft an neue Anforderungen anzupassen.

Die Innovationen der Serie S530 maximieren die Testauslastung über einen breiten Produktbereich hinweg und ermöglichen die einfache Migration vorhandener Testsoftware, Prüfkarten und anderer Elemente, während sie gleichzeitig eine vollständige Datenkorrelation und signifikante Geschwindigkeitsverbesserungen bieten. Das Modell S530-HV ermöglicht das Testen von bis zu 1100 V an jedem Pin und bietet damit einen um 50 Prozent oder mehr erhöhten Durchsatz gegenüber Wettbewerbersystemen im Bereich der Leistungs- und WBG-Anwendungen. Chiphersteller können eine Vielzahl von Produkten mit einem einzigen System testen, einschließlich Automobilprodukte gemäß der IATF-16949-Qualitätsmanagementnorm. Die Kalibrierung kann mit minimalen Ausfallzeiten intern oder über die Service-Organisation von Tektronix durchgeführt werden.

Die KTE7-basierte Plattform bietet Halbleiterherstellern den einfachsten und kostengünstigsten Migrationspfad von älteren S600- und S400-Systemen, wobei die vollständige Datenkorrelation erhalten bleibt und der Durchsatz um bis zu 25 Prozent gegenüber der S600 Plattform gesteigert werden kann.

Signifikante Verbesserungen und Branchenneuheiten

• Durch den optionalen Prüfkopf für den S530-HV entfällt die Zeit, die der Bediener beim Wechsel von Niederspannungs- (<200V) zu Hochspannungstests (>200V) auf Wafer-Ebene für den Wechsel der Instrumentierung, der Prüfkopfkarte und der Verkabelung der Testeinrichtung benötigt. Der Prüfkopf ermöglicht Prüfkartenkompatibilität mit mehreren Modellen verschiedener Hersteller, für einen schnelleren Prüfkartenwechsel und eine Auf-Pin-Kalibrierung gemäß ISO-17025 unter Beibehaltung der Abwärtskompatibilität. Dies minimiert die Migrationskosten, schützt die Investitionen der Kunden und unterstützt gleichzeitig neue Anforderungen wie den Automobilstandard IATF-16949.
• Der S530-HV ermöglicht das Testen von bis zu 1100 V an jedem Pin, um so den Durchsatz um 50 Prozent oder mehr gegenüber Wettbewerbssystemen in Leistungs- und WBG-Anwendungen zu steigern. Betreiber können jede Testressource in beliebiger Reihenfolge an jeden Testpin anschließen, um Produktionsanforderungen schnell und einfach zu realisieren, ohne die Signalpfade neu konfigurieren oder umrüsten zu müssen.
• Die KTE-Software-Kompatibilität vereinfacht und beschleunigt die Migration von Altsystemen wie dem S600 erheblich und erreicht dabei volle Daten-Korrelation mit bis zu 25 Prozent schnellerem Durchsatz.
• Ein eingebauter transienter Überspannungs-/Überstromschutz verhindert die versehentliche Beschädigung von Prüfkarten, Nadeln und Instrumenten - was besonders bei Hochgeschwindigkeits-WBG-Anwendungen kritisch ist.
• Während der Systemkalibrierung schaltet die neue System-Referenzeinheit 5880-SRU automatisch alle DC- und AC-Referenzstandards um, so dass das manuelle Verbinden, Trennen und Wiederverbinden entfällt. Dieser vollautomatische Prozess reduziert die Systemausfallzeit und die daraus resultierenden Supportkosten bei der Durchführung der Kalibrierung erheblich, was zu einem niedrigeren COO-Profil führt.

Verfügbarkeit

Das parametrische Testsystem der Serie S530 ist ab sofort weltweit erhältlich

www.tek.com/

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