News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Modulare, skalierbare Halbleiter-Testplattform

19. Januar 2011 - ATE IP vertreibt mit der ID Mod-Plattform von Aspect eine modulare, skalierbare Halbleiter-Testplattform für den Einsatz in Produktion, Verifikation, Evaluierung und Qualitätssicherung. Typische Anwendungsbereiche sind der Digital- und Analog-Test auf Wafer- und Chip-Level-Test, aber auch der Test von Chip-Karten oder die Messung von optoelektronischen Parametern.

Mit der vielseitig und flexibel einsetzbaren ID Mod-Plattform lassen sich optimale Tester für komplette Baustein-Produktfamilien konfigurieren, ganz im Gegenteil zu den konventionellen Testern, die in der Regel nur ausschließlich für ein Produkt geeignet sind.

Die modulare und äußerst kompakte Pin- und Testelektronik der Plattform kann direkt auf dem Prüfobjekt/Loadboard, Testkopf oder in einem Handler untergebracht werden und kombiniert dabei höchste Messgenauigkeit , mit hoher Signalintegrität und hohem Prüfdurchsatz.

Die Testplattform ist absolut skalierbar sowohl in der Funktionalität als auch in der Pinzahl, deshalb lassen sich praktisch alle Arten von ATE-Systemen erstellen. Ein relativ einfach konfiguriertes Einzelplatzsystem besteht beispielsweise aus der Compact Test Unit mit 64 einpoligen I/Os. Dabei sind ADC/DAC mit 12 bit Wandlerbreite sowie eine programmierbare Widerstandsdekade für 1 bis 100 kOhm über 100 Schritte implementiert. Weitere Prüfressourcen werden über einen proprietären Bus hinzugefügt.

Solch eine Single-Site-Lösung kann in einem äußerst kompakten Gehäuse untergebracht sein, das in Höhe und Breite nur wenige Zentimeter über dem Basis-Boardmaß von 5 x 5 cm liegt. Der mögliche weitere Ausbau in Funktions- und Kanalumfang erfolgt hierbei über nach Bedarf anreihbare Single-Slot-Module. Auch umfangreichere Konfigurationen bis hin zu Multi-Site-Systemen für höchsten Durchsatz im Prüffeld mit Tausenden von Testkanälen lassen sich konfigurieren.

www.ateip.info

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