News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Komplette Test- und Debugging-Umgebung für sicherheitskritische Automotive-Applikationen

22. September 2016 – Eine optimal auf die umfangreichen internen Fehlersuchfunktionen der aktuellen 32-Bit Power Architecture MCU-Familie SPC570S von STMicroelectronics abgestimmte Test- und Debugging-Umgebung präsentiert PLS Programmierbare Logik & Systeme auf der electronica in Halle A6, Stand A16. mit der Version 4.6 ihrer Universal Debug Engine (UDE).

Die neuesten Controller aus dem Automotive-MCU-Portfolio des italienisch-französischen Chipherstellers wurden vorrangig für den Einsatz in ABS- und Airbag-Steuerungen entwickelt, also für Applikationen, die höchsten Ansprüche an die funktionale Sicherheit bis hin zum Automotive Safety Integrity Level ASIL-D der ISO 26262 gerecht werden müssen. Deshalb sind die mit bis zu 80 MHz getakteten und in unterschiedlichen Ausstattungsvarianten erhältlichen Bausteine der SPC570S-Familie beispielsweise zusätzlich zu ihrem e200z0h-Rechenkern mit einem weiteren Checker-Core ausgestattet, der als Safety-Core dient.

Die UDE 4.6 unterstützt alle technischen Features der SPC570S-MCUs inklusive ihrer umfangreichen internen Debug-Funktionen ohne jegliche Einschränkung. So bietet die Benutzeroberfläche der UDE 4.6 dem Entwickler neben der traditionellen Benutzung von Breakpoints und dem Single-Step-Betrieb beispielsweise zahlreiche Möglichkeiten, um den Systemzustand zur Laufzeit zu visualisieren – angefangen von der Darstellung von Applikationsvariablen, die sich im Speicher befinden, über den uneingeschränkten Zugang zu den Core- und Peripheral-Registern bis hin zur grafischen Darstellung von Systemwerten in Diagrammen.

Für umfangreiche System-Level-Analysen und die Sicherstellung der funktionalen Sicherheit stellt die UDE 4.6 darüber hinaus Trace-basierte Werkzeuge zur Verfügung, die auf dem Nexus-Class-3-Trace der SPC570S-MCUs aufsetzen. Damit lässt sich neben Post-Mortem-Analysen und Profiling-Informationen auch das Code-Coverage für den Nachweis einer ausreichenden Testabdeckung gewinnen.

Eine enge Kopplung von Testtools Dritter an die UDE und ein umfangreiches Scripting ermöglicht die leistungsstarke, auf dem Microsoft® Common Object Model (COM) basierende Automatisierungsschnittstelle der UDE 4.6. Die Unabhängigkeit der UDE von proprietären Skriptsprachen ist dabei einzigartig.

Für eine schnelle und sichere Kommunikation mit den SPC570S-MCUs sorgen die beiden Universal Access Devices UAD2pro und UAD3+. Passend zur spezifischen OnCE-Debug-Schnittstelle der Power Architecture stehen für beide Geräte entsprechende Adapter zur Verfügung, für anspruchsvolle Umgebungsbedingungen wahlweise auch mit zusätzlicher galvanischer Isolation. Die SPC570S-Controller erlauben die Aufzeichnung von parallelem Programm- und Datentrace, der über das Nexus-Interface in das UAD3+ übertragen wird. Dort stehen dann bis zu 4GByte Speicher für die Trace-Daten zur Verfügung.

www.pls-mc.com/

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