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Bauteil-/Halbleiter-Test

Keithley erweitert Halbleiter-Charakterisierungssystem für den Test von SolarzellenKeithley-SUSS-Cable300

20. März 2009 - Keithley Instruments stellt eine Reihe von Hardware-, Firmware- und Software-Erweiterungen für sein Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS vor. Der Upgrade beinhaltet neun neue Testbibliotheken, einen erweiterten Frequenzbereich für die C-V-Messfunktion  und eine Unterstützung für das neue Instrumenten-Chassis mit neun Steckplätzen.

Die neuen in KTEI V7.2 enthaltenen Testbibliotheken erweitern die Möglichkeiten des Modells 4200-SCS auf I-V- und C-V-Tests, sowie Messungen des spezifischen Widerstands für Solarzellen. Derartige Messungen werden auf Grund des wachsenden Interesse und der staatlichen Förderung von alternativen Energie-Technologien zunehmend wichtiger. Der Software-Upgrade unterstützt auch DLCP-Messungen (Drive-Level Capacitance Profiling), ein neues Testverfahren für Solarzellen, das mit den bislang erhältlichen Testlösungen nur schwierig durchführbar war. DLCP liefert Informationen zur Fehlerdichte bei Dünnfilm-Solarzellen. Bestehende C-V-Karten (Kapazität-Spannung) des Modells 4200-CVU, die im November 2007 vorgestellt wurden, können für dieses Testverfahren modifiziert werden.

Der Frequenzbereich des Modells 4200-CVU wurde zur Unterstützung der DLCP-Tests von 10kHz-10MHz auf 1kHz-10Mz erweitert. Dieser vergrößerte Frequenzbereich erweitert auch den Anwendungsbereich des Systems, so dass ein Test von LCDs und organischen Halbleitern, wie OLEDs (Organic Light-Emitting Diode), unterstützt wird.

Durch die zunehmende Verbreitung von I-V-, Impuls- und C-V-Charakterisierungen benötigen die Anwender des Modells 4200-SCS eine außerordentliche Testflexibilität und umfassende Möglichkeiten, wofür die Grundsysteme allerdings oftmals zu wenige Steckplätze enthalten. Im Hinblick auf diese Anforderung unterstützt der Upgrade V7.2 nun ein Instrumenten-Chassis mit neun Steckplätzen. Bislang verfügte das Modell 4200-SCS nur über acht Steckplätze für Source-Measure Units (SMUs), Impulsgenerierungs- und Oszilloskopkarten, sowie Kapazität-Spannungskarten. Bestehende Systeme des Modells 4200-SCS können auf neun Steckplätze umgerüstet werden; alle neuen Grundsysteme verfügen künftig über neun Steckplätze.

In Ergänzung zum Upgrade V7.2 hat Keithley auch ein neues leistungsfähiges Triax-Kabelset für die Verbindung des Modell 4200-SCS mit einem Prober entwickelt, das die Umschaltung zwischen DC I-V-, C-V- und Impulstest-Konfigurationen vereinfacht. Durch das neue Kabelset ist keine Änderung der Verkabelung mehr notwendig, zudem lassen sich die meist durch Verbindungsfehler verursachten Messfehler vermeiden.

Das Modell 4200-SCS von Keithley ersetzt verschiedene elektrische Testwerkzeuge durch eine einzige, hoch integrierte Charakterisierungslösung, die sich für unterschiedlichste Anwendungen eignet. Diese reichen von der Entwicklung von Halbleitertechnologien und Prozessen, über die Erforschung der Materialzuverlässigkeit, sowie die Erforschung von Materialien und Bauteilen bis hin zu Laboranwendungen, die ein Benchtop-DC- oder Impulsinstrument benötigen.

Die Version 7.2 von KTEI ist ab sofort kostenlos für Anwender des Modells 4200-SCS erhältlich. Allerdings fallen Kosten für die Kalibrierung der Erweiterung 4210-CVU und den Upgrade bestehender Modelle 4200-SCS für eine Unterstützung von neun Instrumenten an.

 

www.keithley.de



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