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Bauteil-/Halbleiter-Test

Advantest steigt in den Markt für MEMS-Test ein

17. April 2013 - Advantest ist in den schnell wachsenden Tester-Markt für MEMS-basierte Sensoren (Mikro-elektromechanische Systeme) eingestiegen. An verschiedenen Standorten von Freescale Semiconductor sind bereits V93000 Smart ScaleTM-Systeme installiert. Zusätzlich zum „Developement & Engineering Center der Sensor and Actuator Solutions Division“ von Freescale in Tempe, Arizona, hat der Halbleiterhersteller die V93000-Plattform von Advantest auch im Produktionstest seiner neuesten Generation von MEMS-basierenden Sensoren in Asien im Einsatz.

Die vielseitige V93000 Smart Scale-Plattform von Advantest ist mit digitalen Pin Scale 1600 Modulen ausgerüstet und kann für einen sehr kostengünstigen Test von in großen Stückzahlen hergestellten Sensoren konfiguriert werden. Durch den ultrakompakten A-Class-Testhead wird nur wenig Standfläche benötigt. Die Systemressourcen und die Prozessor-basierende universelle Pin-Architektur des V93000 gewährleisten hohe Parallelität und Multi-Site-Effizienz für den Test von aktuellen und künftigen Sensortechnologien.

Der Tester ist mit Treibern für alle gängigen MEMS-Handler ausgestattet. Dies ist ein entscheidendes Leistungsattribut beim MEMS-Test, da der Handler innerhalb des Testlaufs zwischen unterschiedlichen Orientierungen umstellen muss.

Die V93000-Plattform bietet hohe Flexibilität und eignet sich für den Test von Halbleiterbauteilen für verschiedene Anwendungen, von Sensoren bis hin zur drahtlosen Kommunikation. Die hohe per-Pin-Genauigkeit und der hohe Durchsatz des Testers ermöglichen ein rasches Hochfahren der Produktionsmengen und damit eine Verkürzung der Time-to-Market. Seit beinahe zwei Jahrzehnten wird die V93000-Plattform in der Entwicklung und der Produktion von mehreren Generationen von Logik- und schnellen Speicher-ICs von Fabless-Unternehmen, OSAT Foundries und IDMs (Integrated Device Manufacturer) weltweit eingesetzt.

www.advantest.de/



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