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Bauteil-/Halbleiter-Test

Advantest stellt neue Test Floor Intelligence Software vor

04. Juli 2013 - Advantest stellt seine neueste Test Floor Intelligence Software TFI 2.0 vor, mit der sich die Gesamtanlageneffizienz (OEE) beim Produktionstest verbessern lässt. Dies wird durch ein effizientes Mining und die Analyse großer Datenmengen erreicht, die während des Halbleitertests generiert werden. TFI ist die Lösung der zweiten Generation von Advantest und führt eine Echtzeit- Daten-Erfassung, -Steuerung und ein Internet-basiertes Reporting aus.

"Die OEE-Optimierung ist keine einfache Aufgabe. Es erfordert eine Kombination von umfangreichen Datenquellen, eine schnelle Analyse und eine automatische Prozesssteuerung, um die Testerauslastung, Testzeit, Wartungszyklen und die effektive Fertigungsausbeute zu optimieren", sagt Stephen Ledford, Director of global Production Solutions bei Advantest. "Unser TFI 2.0 ist der erste Schritt, um eine integrierte Datenerfassung und ein Reporting für alle Advantest-Tester zu ermöglichen und über einen einzigen Server zugänglich zu machen, indem eine flexible Fertigungsintegration auf der Basis einer offenen Architektur realisiert wird."

Die Lösung erlaubt den Prüffeld-Managern eine sofortige Beurteilung der Tester-Auslastung, des Anlagenzustands, der Fehler-Erkennung, der effektiven Fertigungsausbeute sowie anderer wichtiger Betriebsparameter. Das System identifiziert auch potenzielle Probleme betreffend des Testprogramms, der Schnittstellen-Hardware und der Testsysteme, bevor sie sich diese auf die Produktivität auswirken.

Die Software-Suite verwaltet die umfangreiche Dateninfrastruktur der heutigen automatischen Testsysteme (ATE), die weit über konventionelle Testdaten-Aufzeichnungen hinausgeht und Echtzeit-Informationen über den Zustand der Anlagen sowie Wartungsberichte und Testzellen-Konfigurationen enthält. Dies ermöglicht eine beispiellose Interaktivität, Anpassbarkeit und Skalierbarkeit, wobei Terabytes von Testdaten anfallen.

"OEE ist mittlerweile ein wichtiger Kennwert für Halbleiterunternehmen und OSATs (Outsourced Semiconductor Assembly and Test), um alle Aspekte des Testprozesses zu optimieren", sagt Ron Leckie, Marktforscher und Consultant bei Infrastructure Advisors. "Während der Multisite-Test eine starke, positive Auswirkung auf die Anlageneffizienz hat, werden die nächsten größeren Verbesserungen vermutlich durch eine neue Generation von Software-Werkzeugen erreicht. Diese überwachen und steuern aktiv den gesamten Testprozess, einschließlich ATE, Handler, Prober, Schnittstellen-Hardware, Testprogramme und Prüfoperationen."

Die TFI 2.0 eignet sich für den Einsatz in größeren Fabless-IC-Unternehmen, OSATs und Halbleiter-Foundries und ist weltweit ab Juli 2013 erhältlich.

www.advantest.de/



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